| 主权项 |
1.一种圆形外观之电子元件特性値检测装置追加案,主要系包括:一机台,容置各组件者;一进料引道,导入欲检测特性値的圆形外观电子元件;一旋转进料机构,枢设在该机台上承接该进料引道导入的电子元件者;一传动机构,传递该旋转进料机构步进回转的动力者;一检测机构,设置于电子元件进料后的一步进回转定位点,操作的降下检测仪器的一检测电极,使压触导通检测仪器另一电极检出特性値,并记忆其检出値预设的分类下料位址者;一下料机构,依该特性値检测仪器检出记忆的下料位址适时的引入压力空气吹昇该圆形外观电子元件飞落入其预设的各分类容器内贮存,其特征在于:A.该各圆形外观电子元件自该机台环盖入料道进入该旋转进料机构转盘的置料穴后,系由该环盖的凹槽壁、环形耐磨片、和各开口置料穴所围且近似封闭而略大于一个电子元件的空间所限持的步进回转移动者;B.该下料机构于其各下料位址的该机台基座穿通同数的孔道各引接压力空气源,及该各下料位址的环形耐磨片穿通数通气孔以连通该各孔道和旋转进料机构转盘的各置料穴,并于该各位址的置料穴范围上适当间距的封盖一座板,使正对该各位址的置料穴各连设一出料管,于该各圆形外观电子元件步进到检测分类对应下料位址定位点时,即引入对应的压力空气吹推该置料穴内的电子元件昇离,使循着该出料管飞落入预设的分类容器内贮存者。2.如申请专利范围第1项所述的圆形外观之电子元件特性値检测装置追加案,其中该机台基座上对应电子元件步进回转轨道嵌置的环形耐磨片,于各下料位址预先穿设有同心圆的多圈通气孔组,可使用于不同直径的电子元件检测分类时,仅需更换适用的环盖凹槽和旋转进料机构转盘置料穴,及调整该检测机构检测探针的作动高度和位置者。3.如申请专利范围第1项所述的圆形外观之电子元件特性値检测装置追加案,其中该旋转进料机构转盘置料穴对接该环盖入料道的定位点基座上穿设一通气槽道引接真空泵,及该定位点的该环形耐磨片上穿设一气孔,使连通该通气槽道和置料穴,以加速和吸持该电子元件进料者。4.如申请专利范围第1项所述的圆形外观之电子元件特性値检测装置追加案,其中该旋转进料机构转盘置料穴对接环盖入料道的定位点到该检测机构导电块前,及离开该检测机构到该下料机构前,正对该各置料穴步进轨道于机台基座上挖设有通气槽道各引接真空泵,及对应该通气槽道于该各置料穴步进定位点的该环形耐磨片上适当位置穿设数气孔,使连通该通气槽道和各置料穴吸持该电子元件步进回转移动者。图式简单说明:第1图系本创作的组合简意剖示图。第2图系本创作进料部份的放大剖面示意图。第3图系第2图的上视示意图。第4图系本创作部份的组合放大剖示图。第5图系第4图的上视示意图。第6图系本创作分类下料机构的放大剖示图。第7图系本创作分类下料机构的部份放大上视图。第8图系第3图I-I方向排料部位的剖示图。第9图系本创作不同径电子元件的下料机构部份上视图。第10图系本创作另一实施例的部份组合剖示图。 |
