发明名称 介面卡测试治具改良
摘要 一种介面卡测试治具改良,系包括有固定座、转接卡及压挡座,其特征在于:该固定座之长度必须长于压挡座长度,并于两侧对应于压挡座之螺孔处各设有通孔,以供螺付元件贯穿,使该螺付元件上螺接于压挡座之螺孔上,让压挡座与固定座、转接卡三者连结成一复合体,且压挡座得于固定座下方上下滑移,并令转接卡之金手指得穿凸于压挡座之长沟槽外进行连接测试;藉此,于测压基板4上组装实施,只需以固定座一次锁付操作即能达成治具定位之目的,或无须架构于测压基板上,可完整单独架构而独立进行单一测试使用者。
申请公布号 TW491360 申请公布日期 2002.06.11
申请号 TW089221314 申请日期 2000.12.08
申请人 王俞钧 发明人 王俞钧
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项 一种介面卡测试治具改良,系包括有固定座、转接卡及压挡座,其中固定座与转接卡为相互锁付连结成一体,其特征在于:该固定座之长度必须长于压挡座长度,并于两侧对应于压挡座之螺孔处各设有通孔,以供螺付元件贯穿,使该螺付元件上螺接于压挡座之螺孔上,让压挡座与固定座、转接卡三者连结成一复合体,且压挡座得于固定座下方上下滑移,并令转接卡之金手指得穿凸于压挡座之长沟槽外进行连接测试,藉此,于测压基板上组装实施,只需固定座一次锁付操作即能达成治具定位之目的,或无须架构于测压基板上,可完整单独架构而独立进行单一测试使用者。图式简单说明:第一图所示为习知介面卡测试治具之实施例示意图。第二图所示为本创作介面卡测试治具之剖面示意图。第三图所示为本创作介面卡测试治具之组装状态立体图。第四图所示为本创作介面卡测试治具之组装状态平面图。第五图所示为本创作介面卡测试治具之实施例示意图。第六图所示为本创作介面卡测试治具之另一实施例示意图。
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