| 主权项 |
1.一种电路,其是用于一个具有一程式记忆体之微 控制器,是含有: 一个程式记忆体写入效能暂存器; 一个电压侦测器电路;及 一个解码器电路,其是与该暂存器和该侦测器电路 连接。2.如申请专利范围第1项之电路,其含有: 一个重设电路,其是与该暂存器和该侦测器电路连 接。3.如申请专利范围第2项之电路,其中: 该重设电路是输出一个能重新设定该暂存器之信 号。4.如申请专利范围第3项之电路,其中: 该重设电路是含有下列之装置:只在重新设定该微 控制器时,能重新设定该暂存器。5.如申请专利范 围第2项之电路,其含有: 该微控制器之一个输入接脚,其是与该重设电路和 该侦测器电路连接。6.如申请专利范围第1项之电 路,其中该解码器电是含有: 一个第1输入端,其用来接收该侦测器电路之一个 输出; 一个第2输入端,其用来接收该暂存器之一个输出; 装置,其是依照该侦测器电路和该暂存器之输出, 来输出一个测试模式致能信号和一个程式记忆体 致能信号。7.如申请专利范围第1项之电路,其中: 该微控制器是含有一个资料记忆体;及 该暂存器在该资料记忆体是含有一个记忆体位置 。8.一种使在一个微控制器之一记忆体程式化的 方法,其含有: 侦测一个程式化位准电压; 决定是否使该记忆体程式化;及 在侦测到该电压并决定使该记忆体程式化之后,使 该记忆体程式化。9.如申请专利范围第8项之方法, 其含有: 当侦测到该电压并且使该记忆体不会程式化时,进 入一个测试模式。10.如申请专利范围第9项之方法 ,其含有: 进入该测试模式; 使该记忆体程式化;及 使该记忆体程式化,同时是处于该测试模式下。11. 如申请专利范围第8项之方法,其含有: 在内部决定是否进入一个测试模式。12.如申请专 利范围第11项之方法,其含有: 使用该程式化位准电压,并在内部决定是否进入该 测试模式。13.如申请专利范围第8项之方法,其含 有: 在一个正常使用者模式下运作该微控制器;及 在该正常使用者模式期间,使该记忆体程式化。14. 如申请专利范围第8项之方法,其含有: 在该微控制器之一个输入接脚上,侦测一个程式位 准电压信号;及 在该接脚上,使至少一个其他信号多工化。15.如申 请专利范围第14项之方法,其含有: 在该接脚上,使一个重设信号多工化。16.一种能使 一个微控制器增加功能之方法,其含有: 识别第1和第2输入信号,其是执行各别之第1和第2 预定功能所需要者; 使用第1信号来执行第1功能; 在内部使用第1信号来侦测是否执行第2功能;及 不使用第2输入信号来作为该微控制器之一个输入 。17.如申请专利范围第16项之方法,其含有: 识别该第1信号来作为一个程式化位准电压,以便 使该微控制器之一个记忆体程式化; 识别该第2信号来作为一个测试模式选择信号; 使用该程式化位准电压,来侦测是否进入该测试模 式;及 不使用该测试模式选择信号来作为一个输入。18. 如申请专利范围第16之方法,其中在内部使用该第1 信号是含有: 侦测该程式化位准电压; 决定是否使该微控制器之一个程式记忆体程式化; 当侦测到程式化位准电压并且决定不使该记忆体 程式化时,进入该测试模式;及 当侦测到该程式化位准电压并且决定使该记忆体 程式化时,进入一个程式化模式。19.如申请专利范 围第18项之方法,其含有: 进入该程式化模式,同时在一个正常使用者模式下 运作该微控制器。20.如申请专利范围第18项之方 法,其含有: 在进入该测试模式之后,进入该程式化模式。图式 简单说明: 图1是一个依照本发明之微处理器的接脚图; 图2是一个依照本发明之微处理器的电路方块图; 图3是一个依照本发明之微处理器的电路图; 图4是一个依照本发明之在该微处理器的资料记忆 体图;及 图5是一个时序图,其说明依照本发明之微处理器 的运作。 |
