发明名称 转子测试治具
摘要 本创作系一种转子测试治具,其系设有一本体,该本体上设有一面板,该面板处设有一测试座,且其上可活动地设有数个测试器,该等测试器上面对该面板之一端上设有至少一个探测元件,该面板背对该等测试器之一侧设有一转盘,该转盘之适当位置处设有一驱动器,俾该驱动器带动该转盘转动时,可带动该等测试器向该测试座方向移动,俾在该测试座上安装有一转子,启动该驱动器时,该等探测元件恰可触接在该转子所设之导电片上,若该等探测元件与一测试装置之导线相接时,即可进行转子之测试。
申请公布号 TW489698 申请公布日期 2002.06.01
申请号 TW090207034 申请日期 2001.05.01
申请人 益和股份有限公司 发明人 周铭昌
分类号 B25B11/00 主分类号 B25B11/00
代理机构 代理人 严国杰 台北巿承德路一段七十之一号六楼
主权项 1.一种转子测试治具,包括:一本体;一面板,该面板系设在该本体之适当位置处,其上设有数个向该面板中央延伸之轨道,该等轨道间系呈适当之夹角,该面板在该等轨道所围成之圆形之圆心位置上设有一穿孔;一转盘,该转盘系设在该面板之一侧上,其上设有数个沟槽,该等沟槽系与该等轨道间呈适当之角度;一测试座,该测试座系穿过该转盘,并与该面板相接,该测试座之开口恰与该穿孔相对;一驱动器,该驱动器系设在该本体另一适当位置处,并与该转盘相接在一起,俾透过该驱动器之驱动,令该转盘沿该测试座之轴向转动;一测试器,该测试器系设在该面板另侧于该等轨道上,其上面对该面板中央之一端上设有至少一个探测元件,该等测试器面对该面板之一侧上分别设有可在该轨道上滑移之一滑动块;数个抵靠体,该等抵靠体系设在该转盘背对该面板之一侧上,该等抵靠体上设有一向该转盘方向延伸之杆体,该等杆体系穿过该轨道及沟槽,使其与该滑动块相接,藉由等该抵靠体在转盘上,令该等杆体不致晃动,俾该转盘转动时,该等杆体受该轨道及沟槽之限制,而带动该等滑动块及测试器向该穿孔方向移动。2.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中该测试座上可设有插设一套筒。3.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中在该测试座上可插设一限位筒,该限位筒适当位置上设有数个贯穿孔,俾启动该驱动器时,仅有穿过该等贯穿孔之探测元件可触接在该转子所设之导电片上。4.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中在该套筒上可插设一限位筒,该限位筒适当位置上设有数个贯穿孔,俾启动该驱动器时,仅有穿过该等贯穿孔之探测元件可触接在该转子所设之导电片上。5.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中该本体在该驱动器之行程范围内活动地设有一止档杆,藉由调整该止档杆之位置限制该驱动器移动之位置。6.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中该驱动器系可为一气压缸,该气压缸之推杆与该转盘间枢设有一块体,俾该推杆移动时,其可带动该块体移动,进而使该转盘转动。7.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中在该转盘之边缘适当位置上设有数个另一轴承,该等另一轴承之边缘与该转盘之边缘触接,该等另一轴承之底缘上设有数个支撑块,该支撑块之顶面部份系与该转盘之底面触接。8.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中该等探测元件可为一探针,该探针系在一中空之杆体内依序设有一弹簧及一针体,其中该针体之部份系凸出该杆体一端。9.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中该等杆体上与该转盘相接触之位置上套分别设有一轴承。10.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中该等抵靠体远离该转盘之一端上设有一接合元件,该等接合元件系穿过该等抵靠体之中央及杆体,而与该等滑动块相接在一起。11.如申请专利范围第1项所述之转子测试治具,其中该接合元件系可为一螺丝。图式简单说明:第一图系习知之立体外观图。第二图系本创作之立体外观图。第三图系本创作之立体分解图。第四图系本创作之动作示意图之一。第五图系本创作之动作示意图之二。
地址 台北县汐止镇新台五路一段七十九号十四楼之六