发明名称 | 溅射靶及其制造方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种生产透明导电薄膜的IZO溅射靶,它含100-2000ppm的Sn,其主要由In和Zn的氧化物组成,本发明还涉及一种用于生产透明导电薄膜的IZO溅射靶的方法,该靶含100-2000ppm的Sn,它主要由在1100-1500℃下烧结In<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>和ZnO的混合粉末的所得的In和Zn的氧化物组成,以致其ZnO的含量为0.5-25重量%。生产透明导电薄膜的IZO溅射靶和透明导电薄膜可恒定地获得,并有很好的再现性,其中主要由In和Zn的氧化物组成的IZO透明导电薄膜得到了改进,未影响其特性,加入微量的Sn降低了其体电阻,在溅射时可稳定放电。 | ||
申请公布号 | CN1350599A | 申请公布日期 | 2002.05.22 |
申请号 | CN00807317.1 | 申请日期 | 2000.05.01 |
申请人 | 株式会社日本能源 | 发明人 | 中岛光一;石塚庆一;熊原吉一 |
分类号 | C23C14/34 | 主分类号 | C23C14/34 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 卢新华;罗才希 |
主权项 | 1.一种用于生产透明导电薄膜的IZO溅射靶,它主要含有In和Zn氧化物,其特征在于,它含有100-2000ppm Sn。 | ||
地址 | 日本东京都 |