发明名称 低密度粉末料位超声波连续测量仪
摘要 低密度粉末料位超声波连续测量仪,包括超声换能器,测温传感器,微处理器,超声发射接收电路,滤波电路,放大电路,高速采样电路,对数放大电路,门电路,A/D采样电路,D/A输出电路及数字显示器。本发明测量仪通过测试软件自动激活各个操作过程和实现人机对话进行全天候连续地进行测量并可进行远程传输,对气流输送条件下的自由堆积密度从0.5T/m<SUP>3</SUP>~1.3T/m<SUP>3</SUP>微米级粒径物料的料位测量精度达到0.5%。
申请公布号 CN1350163A 申请公布日期 2002.05.22
申请号 CN00125740.4 申请日期 2000.10.20
申请人 同济大学 发明人 汤建明;谭震威
分类号 G01F23/296 主分类号 G01F23/296
代理机构 代理人
主权项 1.低密度粉末料位超声波连续测量仪,其特征在于:微处理器(3)控制发射电路(8),激励超声换能器(6)发射超声波和接收超声回波,超声回波经放大电路(12),滤波电路(11),对数放大电路(10),门电路(9)判别、处理读计脉冲数,计算声时,根据温度传感器(5)测得的温度由高速采样电路(7)采样后通过A/D采样电路(4)传输给微处理器(3)自动对超声声速进行补偿和修正并计算物料的料位和对测量进行判别,并通过数字显示器(1)显示,通过D/A输出电路(2)与记录仪,远程传输设备,打印机连接。
地址 200092上海市四平路1239号