| 主权项 |
1.一种扫瞄器自动加框之影像处理方法,包括如下之步骤:a.提供一预视影像,将上述预视影像的构成画素以影像区分法处理,而得到至少一低临界値与一高临界値;b.将上述预视影像的每一水平列中各点画素之特征値与上述低临界値做比较,并将每一水平列中大于上述低临界値的总点数分别记录下来,而得复数个强度点数,将上述每一强度点数分别与一界限値做比较,藉以将强度点数大于上述界限値之水平列所在之各个区域框选出来,而将上述预视影像水平分割成一至多个水平框选区;c.以上述之各个框选区为影像处理之区域,将其每一垂直行中之各点画素与上述低临界値做比较,并将每一垂直行中大于上述低临界値的点数分别记录下来,而得相对于各垂直行的强度点数,再将其各个垂直行之强度点数分别与上述界限値做比较,藉以将强度値大于上述界限値之垂直行所在之各个区域框选出来,而将上述水平框选区再垂直分割出一至多个垂直框选区;以及d.重覆步骤b、c之方法,对所有之框选区进行水平和垂直之分割,直到在每一次之水平分割或垂直分割均对先前之框选区无法再分割出新的框选区为止,即完成影像自动加框之处理。2.如申请专利范围第1项所述之影像处理方法,其中上述影像区分法实施之步骤为:a.任意取复数个不相等値之初始値,其一对一地对应于复数个集合,作为各上述集合之中心特征値;b.将上述每一个构成画素之彩色値经一特定运算后,分别得到其相对应之画素特征値;c.将每一上述画素特征値分别与上述各集合之中心特征値相减后取绝对値,以决定出与上述画素特征値最接近之中心特征値,并将上述每一画素特征値分别放入最接近的中心特征値所对应之集合中;d.将对应到上述每一集合的所有画素特征値加以平均而分别得到一个平均特征値;以及e.将每一上述每一集合之平均特征値与其中心特征値互相比较,若其差値皆介于一特定范围,则以上述每一集合之平均特征値中之最小値为上述低临界値,以上述每一集合之平均特征値中之最大者为上述高临界値,而达成上述影像区分之目的,若上述集合中至少存在一集合其平均特征値与其中心特征値之差値大于上述特定范围,则将上述每一集合之中心特征値皆以其平均特征値取代之,再重覆上述步骤c、d、e。3.如申请专利范围第1项所述之影像处理方法,其中当扫瞄器具有上盖时,则依下述步骤处理:将预储存一张未放任何物件于扫瞄器时,扫瞄而得之背景影像;侦测上盖是否盖上,若无盖上则依上述步骤a-d进行影像加框之处理;若有盖上则先执行下列步骤:i1.将扫瞄物件而得之影像与一背景影像做相减之动作,其中上述背景影像系在上述扫瞄器中未放任何物件,上盖盖上时扫瞄而得之影像;以及i2相减后之影像再依上述步骤a-d所述之方法进行影像加框之处理。4.如申请专利范围第3项所述之影像处理方法,其中在上盖有盖上之情形下,可在执行i1步骤后,将显示于上述预视窗中影像边缘的一定影像素点数宽度之影像区块先行遮没,再进行上述步骤i2之影像加框处理,而有部份影像被遮没之物件在其未遮没之影像部份完成框选后,将其框选区往遮没之区域平行延伸,而将上述被遮没之影像区块加以框选出来成为回复区块,最后以步骤i2对上述回复区块的影线进行加框处理,而完成整体图形之加框动作,藉以避免与他不必要影像之干扰。5.一种扫瞄器自动加框之影像处理方法,用以当扫瞄器在扫瞄底片、以及置于框架中底片的影像时,于预视窗中将底片所在位置自动加框,其包括如下步骤:I.框架测试步骤:先确认底片种类,再进行框架侦测步骤以决定是否有框架之存在,若有框架存在则进行下列步骤II;II.加框处理步骤;在确定有框架之情形下,根据步骤I所确认之底片种类对预视影像作预处理后,再进行如下之步骤,2a.将上述预视影像的构成画素以影像区分法处理,而得到至少一低临界値与一高临界値;2b.将上述预视影像的每一水平列中各点画素与上述低临界値做比较,并将每一水平列中大于上述低临界値的总点数分别记录下来,而得复数个强度点数,将上述每一强度点数分别与一界限値做比较,藉以将强度点数大于上述界限値之水平列所在之各个不连续之区域框选出来,而将预视影像水平分割成一至多个水平框选区;2c.以上述之各个框选区为影像处理之区域,将其每一垂直行中之各点画素与上述低临界値做比较,并将每一垂直行中大于上述低临界値的点数分别记录下来,而得相对于各垂直行的强度点数,再将其各个垂直行之强度点数分别与上述界限値做比较,藉以将强度値大于上述界限値之垂直行所在之各个区域框选出来,而将上述水平框选区再垂直分割出一至多个垂直框选区;2d.重覆步骤2b、2c之方法,对所有之框选区进行水平和垂直之分割,直到在每一次之水平分割或垂直分割均对先前之框选区无法再分割出新的框选区为止,最后将框架中可放置底片之位置一一框选出来;以及2e.对上述每一框选区域中影像之每一画素与上述高临界値做比较,并记录高于上述高临界値的画素点数而得到统计点数,若上述统计点数大于上述框选区中总点数的一定比例,则表示上述框选区中没有放置底片,如此将无放置底片之框选区加以去除,藉以获得正确的框选区域;其中,若在步骤I中确定没有框架存在之情形下,则进行步骤II中所述步骤之2a-2d,藉以将底片所在之位置加以框选出来。6.如申请专利范围第5项所述之影像处理方法,其中上述框架测试步骤I包括:1a.将预视窗中预视影像的构成画素以影像区分法处理,而得到一低临界値与一高临界値;1b.将上述预视形像的每一水平列中各点画素与上述低临界値做比较,并将每一水平列中大于上述低临界値的总点数分别记录下来,而得复数个强度点数,将上述每一强度点数分别与一界限値做比较,藉以将强度点数大于上述界限値之水平列所在之各个不连续之区域框选出来,所框选出的区域即为框架可放置上述底片之位置,并将每一框选区所包括之水平列数加以记录下来;1c.将框架中底片放置区的尺寸依上述扫瞄器之解析度换算成为画素之点数;以及1d.将上述所记录之框选区水平列数与上述底片放置区之框架点数相比较,若有至少两个以上框选区的水平列数与上述之框架点数相差在一定点数之范围内,则判定、有框架之存在。7.如申请专利范围第5项所述之影像处理方法,其中上述影像区分法实施之步骤为:a.任意取复数个不相等値之初始値,其一对一地对应于复数个集合,作为各上述集合之中心特征値;b.将上述每一个构成画素之彩色値经一特定运算后,分别得到其相对应之画素特征値;c.将每一上述画素特征値分别与上述各集合之中心特征値相减后取绝对値,以决定出与上述画素特征値最接近之中心特征値,并将上述每一画素特征値分别放入最接近的中心特征値所对应之集合中;d.将对应到上述每一集合的所有画素特征値加以平均而分别得到一个平均特征値;以及e.将每一上述每一集合之平均特征値与其中心特征値互相比较,若其差値皆介于一特定范围,则以上述每一集合之平均特征値中之最小値为上述低临界値,以上述每一集合之平均特征値中之最大者为上述高临界値,而达成上述影像区分之目的,若上述集合中至少存在一集合其平均特征値与其中心特征値之差値大于上述特定范围,则将上述每一集合之中心特征値皆以其平均特征値取代之,再重覆上述步骤c、d、e。8.如申请专利范围第5项所述之一种影像处理方法,其中上述框架测试步骤I中,在经确认底片种类后对上述预视影像之预处理如下,若底片为负片则对预扫瞄的影像取补数后再进行框架侦测步骤,若底片为正片则无须对预扫瞄的影像取补数,即可进行框架之侦测。9.如申请专利范围第5项所述之一种影像处理方法,其中,若步骤I中底片确认为负片则对预扫瞄的影像取补数后再进行上述加框之处理步骤,若底片确认为正片则要须对预扫瞄的影像取补数,即可进行加框之处理。图式简单说明:第1A-1E图系显示本发明第一实施例之自动加框处理方法之处理过程。第2图系显示预视窗其影像画素之分布情形。第3A-3F图系显示本发明第二实施例之自动加框处理方法之处理过程。第4A-4E图系显示本发明第三实施例之自动加框处理方法之处理过程。 |
