| 主权项 |
1.一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,该方法运用于一光学扫描装置组装校正的过程中,能使组装者快速找出该光学扫描装置的最佳解析度;该光学扫描装置至少包含一影像撷取装置、一镜片及一扫描平台,实施该方法另外需要一辅助校正表尺以及一校正仪器;该方法之步骤至少包含:(1)将该影像撷取装置及该扫描平台分别设于预设位置上,并且将该镜片以可移动的方式设于该影像撷取装置及该扫描平台之间;(2)将该辅助校正表尺置于该扫描平台上,并将该校正仪器电连接于该影像撷取装置;(3)校正仪器读出一右侧水平MTF(调制转移函数Modulation Transfer Function)値、一右侧垂直MTF値、一左侧水平MTF値及一左侧垂直MTF値;(4)该校正仪器将该右侧水平MTF値、该右侧垂直MTF値、该左侧水平MTF値及该左侧垂直MTF値经过运算过后,得知一校正参考値,并显示该校正参考値使组装者得知;(5)组装者调整该镜片位置、同时观察比较该校正参考値,当该校正参考値达到一相对最大値时,固定该镜片位置。2.如申请专利范围第1项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中上述之第(4)步骤中之校正参考値,该値为该右侧水平MTF直、该右侧垂直MTF値、该左侧水平MTF値及该左侧垂直MTF値之总和。3.如申请专利范围第1项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中上述之第(4)步骤中之校正参考値,该値为该右侧水平MTF値、该右侧垂直MTF値、该左侧水平MTF値及该左侧垂直MTF値之总和与一MTF平衡値之差。4.如申请专利范围第3项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中该MTF平衡値为该左侧水平MTF値与该右侧水平MTF値之差的绝对値加上该左侧垂直MTF値与该右侧垂直MTF値之差的绝对値之和。5.如申请专利范围第3项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中该MTF平衡値为左侧水平MTF値与左侧垂直MTF値之差的绝对値加上右侧水平MTF値与右侧垂直MTF値之差的绝对値之和。6.如申请专利范围第3项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中该MTF平衡値为左侧水平MTF値与右侧水平MTF値之差的绝对値、左侧垂直MTF値与右侧垂直MTF値之差的绝对値、左侧水平MTF値与左侧垂直MTF値之差的绝对値与右侧水平MTF値与右侧垂直MTF値之差的绝对値之总和。7.如申请专利范围第1项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中上述之第(4)步骤中之校正仪器,该校正仪器更进一步包含一显示装置,系用以显示该校正参考値。8.如申请专利范围第7项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中该显示装置系以数字型态显示该校正参考値。9.如申请专利范围第7项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中该显示装置系以指示灯型态显示该校正参考値。10.如申请专利范围第1项所述之一找出光学扫描装置的最佳解析度之方法,其中上述之影像撷取装置可为一电荷耦合元件CCD(Charged-CoupledDevice)。11.一辅助装置,该装置能使组装者快速找出一光学扫描装置的最佳解析度;其中该光学扫描装置至少包含一影像撷取装置、一镜片、一扫描平台及一传动机构,该传动机构系带动该影像撷取装置平行移动,以达到该光学扫描装置扫描之目的;该辅助装置至少包含:一辅助校正表尺,该辅助校正表尺系置于该扫描平台上,该辅助校正表尺上至少包含四组侦测图样,分别为一右侧水平侦测图样、一右侧垂直侦测图样、一左侧水平侦测图样及一左侧垂直侦测图样。12.如申请专利范围第11项所述之辅助装置,该装置更进一步至少包含:一校正仪器,该校正仪器电连接于该影像撷取模组,系用来接收该影像撷取装置的影像讯号,转成其相对MTF値,再透过运算后得知一校正参考値。13.如申请专利范围第11项所述之辅助装置,其中上述之辅助校正表尺上之右侧水平侦测图样,系位于该辅助校正表尺之右侧,可为复数条相互平行且与该辅助校正表尺之水平方向垂直之直线所构成。14.如申请专利范围第11项所述之辅助装置,其中上述之辅助校正表尺上之右侧垂直侦测图样,系位于该辅助校正表尺之右侧,可为复数条相互平行且与该辅助校正表尺之水平方向成一预设角度之直线所构成。15.如申请专利范围第11项所述之辅助装置,其中上述之辅助校正表尺上之左侧水平侦测图样,系位于该辅助校正表尺之左侧,可为复数条相互平行且与该辅助校正表尺之水平方向垂直之直线所构成。16.如申请专利范围第11项所述之辅助装置,其中上述之辅助校正表尺上之左侧垂直侦测图样,系位于该辅助校正表尺之左侧,可为复数条相互平行且与该辅助校正表尺之水平方向成一预设角度之直线所构成。17.如申请专利范围第12项所述之辅助装置,其中上述之校正仪器更进一步包含一显示装置,系用以显示该校正参考値。18.如申请专利范围第17项所述之辅助装置,其中该显示装置系以数字型态显示该校正参考値。19.如申请专利范围第17项所述之辅助装置,其中该显示装置系以指示灯型态显示该校正参考値。图式简单说明:第一图 为习知光学扫瞄装置之扫瞄模组示意图。第二图 为习知之辅助校正表尺示意图。第三图 为习知光学扫瞄装置之MTF値–透镜位置关系图。第四A图 为习知光学扫瞄装置之透镜产生X方向歪斜之示意图。第四B图 为习知光学扫瞄装置之透镜产生Y方向歪斜之示意图。第五图 为本发明之辅助校正表尺示意图。第六图 为本发明光学扫瞄装置之MTF値–透镜位置关系图。第七图 为本发明组装光学扫瞄装置之流程图。 |
