| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé et un appareil destinés à tester un écran d'affichage plat défectueux afin de déterminer si le défaut provient des électrodes d'entrée des rangées et des colonnes de l'écran ou des circuits périphériques. Le procédé consiste : à ôter les circuits périphériques de l'affichage ; à appliquer un signal électrique test directement sur les électrodes d'entrée d'une pluralité de lignes adjacentes de l'affichage; et à éclairer en contre-jour ledit affichage. Lorsqu'un défaut touchant électrodes d'entrée des rangées ou des colonnes de l'affichage est décelé, il est alors jugé inutile de réparer l'écran. En revanche, si les électrodes d'entrée des rangées et des colonnes de l'affichage fonctionnent normalement, on peut affirmer que le défaut touche les circuits périphériques, lesquels peuvent alors être remplacés. L'appareil de réalisation de ce procédé comprend : un dispositif générateur de signaux (10) conçu afin d'envoyer un signal électrique test ; un dispositif à électrodes de signaux tests (11) conçu de manière à appliquer directement un signal test vers les électrodes d'entrée d'au moins une pluralité de lignes adjacentes d'un affichage (13) duquel ont été ôtés les circuits périphériques ; et un dispositif d'éclairage (14) conçu afin d'éclairer en contre-jour l'affichage.</p> |
