发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur photothermischen Analyse einer Materialschicht, insbesondere zur Schichtdickenmessung
摘要
申请公布号 DE10013172(C2) 申请公布日期 2002.05.16
申请号 DE20001013172 申请日期 2000.03.17
申请人 WAGNER INTERNATIONAL AG, ALTSTAETTEN 发明人 SCHEIDT, MICHAEL;MOSER, HANSRUEDI;ADAMS, HORST
分类号 G01B15/02;G01B11/06;G01N21/84;(IPC1-7):G01N25/72 主分类号 G01B15/02
代理机构 代理人
主权项
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