发明名称 | 电路板微孔孔壁的非破坏性检测装置 | ||
摘要 | 一种电路板微孔孔壁的非破坏性检测装置,主要是针对电路板上各种尺寸微孔在加工后的孔内壁面品质,包括电镀前、后的通孔或盲孔而设计,其特征是该检测装置具有一探测头,该探测头是一径宽比微孔小的直柱状光导体,供可伸入欲检测的微孔中,又探测头头端设有反射面及接物面,而构成光反射效果,以由探测头上端能直接取得微孔内表面的影像,以供作检测使用,而达成非破坏性的检测功效;又该探测头可另配合其他功能性设备如CCD结构等,而组成高效率的自动化检测装置,而具实用性。 | ||
申请公布号 | CN2492041Y | 申请公布日期 | 2002.05.15 |
申请号 | CN01226779.1 | 申请日期 | 2001.07.06 |
申请人 | 凯崴电子股份有限公司 | 发明人 | 周治云;璩泽中 |
分类号 | H05K3/00;G01N21/84 | 主分类号 | H05K3/00 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱黎光;张占榜 |
主权项 | 1、一种电路板微孔孔壁的非破坏性检测装置,其特征是:设置一探测头,该探测头是一径宽比微孔小的可伸入欲检测的微孔中的直柱状光导体,该探测头的头端设有反射面及相对应的接物面。 | ||
地址 | 台湾省桃园县芦竹乡长兴村7邻34之10号 |