发明名称 Method for equalising technologically caused inhomogeneities in single image pickup detector elements
摘要 <p>Verfahren zur Aufnahme von Bildern insbesondere IR-Bilder mittels eines Detektors mit mehreren Sensorelementen, wobei jedem Sensorelement ein Offsetwert On zur Angleichung der Charakteristiken der einzelne Sensoren zugeordnet ist. Die einzelne Meßwerte werden jeweils nach der Offsetkorrektur einer Homogenitätsprüfung unterzogen. Bei Vorliegen von mindestens zwei der Bedingung a) bis c) wird der Offsetwert On des jeweils überprüften Meßwertes, im folgenden mit Prüfmeßwert Pno bezeichnet , modifiziert. Diese Homogenitätsprüfung umfaßtdie folgenden Schritte: a) Überprüfung, ob der Prüfmeßwert Pno ein Maximalwert des Prüfmeßfeldes darstellt, b) Überprüfung, ob die der Betrag der Abweichung des Prüfmeßwert Pno von dem Mittelwert der Meßpunkte Pni des Prüfmeßfeldes über ein vorbestimmtes Maß von dem Mittelwert der Differenz der Meßpunkte des Prüfmeßfeldes abweicht, c) Überprüfung , ob der Betrag des Prüfmeßwert Pno von dem Mittelwert Pni des Meßpunkte Pni des Prüfmeßfeldes größer ist als die maximale Differenz der Meßwerte des Prüfmeßfeldes. <IMAGE></p>
申请公布号 EP1206128(A1) 申请公布日期 2002.05.15
申请号 EP20010122502 申请日期 2001.09.20
申请人 ZEISS OPTRONIK GMBH 发明人 WIEDMANN, WOLFGANG
分类号 H04N5/365;G06T1/00;G06T5/00;G06T5/50;G06T7/00;H04N5/217;H04N5/33;(IPC1-7):H04N5/217 主分类号 H04N5/365
代理机构 代理人
主权项
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