| 摘要 |
<p>본 발명은 빛의 편광상태를 측정하는 장치 및 그 측정방법에 관한 것으로서, 상기 장치는 서로 다른 주파수로 회전하는 위상지연판과 편광기를 포함하여 이루어진다. 본 발명의 방법은 위상지연판과 편광기를 통과한 광신호를 검출하여 여러 주파수 성분을 분석하여 편광상태를 나타내는 스톡스 파라미터를 구하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 위상지연판에서의 위상지연량을 주파수 성분분석을 통해 편광상태와 동시에 분석할 수 있으므로 이로 인한 오차를 줄일 수 있을 뿐 아니라 넓은 파장영역에서도 사용할 수 있다는 장점을 갖는다.</p> |
