发明名称 | 测量偏振依赖损失的装置和方法 | ||
摘要 | 所揭示的测量偏振依赖损失的装置的特征在于一前一后组合起来并且取向使得测量系统PDL噪声降低至忽略不计水平的几个光纤光学耦合器。通过匹配耦合器的PDL并且矢量化减去偏振的相反相位,实际上消除了测量系统的PDL。因此PDL噪声水平降低至零附近并且被测试光学器件(DUT)的PDL可以精确测量。由于系统测量了工作于反射模式或前向传输模式的光学器件的PDL,所以以较少花费实现和提供了多功能。这样,它提供了对两种类型器件的PDL测量的解决方案。 | ||
申请公布号 | CN1348543A | 申请公布日期 | 2002.05.08 |
申请号 | CN00806621.3 | 申请日期 | 2000.04.07 |
申请人 | 康宁股份有限公司 | 发明人 | M·A·马罗;W·E·施米特;M·A·萨马;G·E·威廉斯 |
分类号 | G01M11/00 | 主分类号 | G01M11/00 |
代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 李湘 |
主权项 | 1.一种利用随机偏振光信号测量被测试光学器件的偏振依赖损失的装置,所述装置产生导入被测试光学器件内的测试输入信号,其特征在于所述装置包括:连接至所述光源的第一无源光学元件,其中所述第一无源光学元件具有第一偏振损失损失;以及连接至所述第一无源光学元件并且具有基本上等于所述第一偏振依赖损失的第二偏振依赖损失的第二无源光学元件,所述第二无源光学元件相对所述第一无源光学元件放置为使所述第二偏振依赖损失基本上抵消所述第一偏振依赖损失并且输出偏振依赖损失等于第一最小值的测试输入信号。 | ||
地址 | 美国纽约州 |