发明名称 Contact structure for a ferroelectric capacitor and method of manufacturing
摘要 <p>In einer Isolationsschicht (4), die den Speicherkondensator von einem Schalttransistor trennt, ist eine durchgehende Kontaktlochöffnung (41) geformt, die bis auf einen Abschnitt mit Poly-Si befüllt ist, auf dem Poly-Si sind in dem verbleibenden Abschnitt der Kontaktlochöffnung (41) eine leitfähige, oxidierbare Zwischenschicht (42) und eine leitfähige Sauerstoffbarrierenschicht (43) derart abgeschieden, daß die Zwischenschicht (42) vollständig von dem Poly-Si der Kontaktlochöffnung (41), der Isolationsschicht (41) und der Barrierenschicht (43) umgeben ist. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1202332(A2) 申请公布日期 2002.05.02
申请号 EP20010121388 申请日期 2001.09.06
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SITARAM, ARKALGUD;DEHM, CHRISTINE;MAZURE-ESPEJO, CARLOS
分类号 H01L21/02;H01L21/768;H01L21/8246;H01L27/115;(IPC1-7):H01L21/28;H01L21/824 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
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