| 发明名称 |
Method and apparatus for surface profiling of materials and calibration of ablation lasers |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU746383(B2) |
申请公布日期 |
2002.05.02 |
| 申请号 |
AU19980083256 |
申请日期 |
1998.07.17 |
| 申请人 |
Q-VIS LIMITED |
发明人 |
PAUL PHILLIP VAN SAARLOOS;DAVID CLYDE MACPHERSON |
| 分类号 |
A61F9/007;B23K26/02;G01B9/02;G01B11/24;(IPC1-7):G01B9/02 |
主分类号 |
A61F9/007 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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