发明名称 投影系统汇聚对准状况的测量
摘要 测量汇聚对准状况的系统(402)可以包括一个光学系统(400),它安排成优先地成像和放大显示屏幕区域(428),这些区域处在通常由使用者观看的区域的外部。那个区域(428)可以包括汇聚标靶(425),这些标靶可以与显示的每个角落相关联。那个信息可以作为一元化的图像提供给成像传感器(414),它在其后可用于分析该信息,而且,如果希望的话,还可做适当的校正。
申请公布号 CN1347622A 申请公布日期 2002.05.01
申请号 CN00806283.8 申请日期 2000.03.08
申请人 英特尔公司 发明人 R·D·史密斯
分类号 H04N9/28;H04N17/04;H04N9/31 主分类号 H04N9/28
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王岳;王忠忠
主权项 1.一种用于测量一投影显示的投影图像汇聚对准状况的系统,包含:一光学系统,适于在所述投影图像上创建至少两个位置分开的单独图像;以及安排成捕获所述单独图像的图像传感器。
地址 美国加利福尼亚州