发明名称 |
半导体器件及其制造方法 |
摘要 |
为折衷关断特性和导通特性,在衬底一面上形成N型缓冲层和低注入发射极构造的P型集电极层10。N型漂移层的厚度确保耐压。在衬底另一面上形成P型基极层、N型发射极层以及P型接触层。N型低电阻层降低了结型场效应晶体管效果。发射极电极与N型发射极层以及P型接触层连接,集电极与P型集电极层连接。栅电极被形成在P型基极层表面部分的沟道区域上的栅绝缘膜上。 |
申请公布号 |
CN1347158A |
申请公布日期 |
2002.05.01 |
申请号 |
CN01132885.1 |
申请日期 |
2001.09.12 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
末代知子;服部秀隆;中川明夫 |
分类号 |
H01L29/74;H01L29/745;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L29/74 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王永刚 |
主权项 |
1、一种半导体器件,其特征在于:具备:第1导电型的第1基极层;第2导电型的集电极层,被形成在上述第1基极层的一面上;第1导电型的缓冲层,被形成在上述第1基极层和上述集电极层之间;第2导电型的第2基极层,被有选择地形成在上述第1基极层的另一面上;第1导电型的发射极层,被形成在上述第2基极层内;栅电极,被形成在位于上述发射极层和上述第1基极层之间的上述第2基极层的第1表面区域上,上述第1基极层,由半导体衬底构成,上述集电极层、上述第2基极层以及上述发射极层,分别由上述半导体衬底内的扩散层构成,上述集电极层的扩散深度,被设定在1μm以下。 |
地址 |
日本东京都 |