发明名称 相位比较装置与方法
摘要 一种相位比较装置与方法,本发明系根据弦波函数正交的特性,将测试波形函数输入一个可调整增益的碟机电路系统中,使其产生输出波形函数,并计算输出波形函数中正弦(sin)函数以及余弦(cos)函数的权重,最后求得测试波形函数与输出波形函数之间的相位差,经由调整电路系统中的增益,控制每一台碟机输出波形函数以及测试波形函数之间的相位差保持一致。
申请公布号 TW484121 申请公布日期 2002.04.21
申请号 TW089101460 申请日期 2000.01.28
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 朱孟煌
分类号 G11B20/00 主分类号 G11B20/00
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种相位比较装置,用以在一碟机中计算二个波形函数之间的一相位差,包括:一相位转换电路,用以根据一测试波形函数之频率,来将该测试波形函数延迟一特定时间;一第一乘法电路,耦接至该相位转换电路相位转换电路,用以将延迟该特定时间的该测试波形函数以及一输出波形函数作相乘的运算;一第一积分电路,耦接于该第一乘法电路,用以将延迟该特定时间的该测试波形函数以及该输出波形函数相乘的结果积分一周期,并产生一第一权値,输出该第一权値;一第二乘法电路,用以将该测试波形函数以及该输出波形函数作相乘的运算;一第二积分电路,耦接于该第二乘法电路,用以将该测试波形函数以及该输出波形函数相乘的结果积分该周期,并产生一第二权値,输出该第二权値;一相角计算电路,耦接于该第一积分电路以及该第二积分电路,用以接收该第一权値以及该第二权値,获得并输出该测试波形函数以及该输出波形函数之间的该相位差。2.如申请专利范围第1项所述之相位比较装置,其中该周期系为该测试波形函数之周期。3.如申请专利范围第1项所述之相位比较装置,其中该测试波形函数系为一正弦(sin)函数。4.如申请专利范围第1项所述之相位比较装置,其中该测试波形函数系为一余弦(cos)函数。5.如申请专利范围第1项所述之相位比较装置,其中该特定时间系为该测试波形函数之周期的四分之一。6.如申请专利范围第1项所述之相位比较装置,其中该特定时间系为该测试波形函数之周期的四分之一再加上任意整数倍之周期。7.如申请专利范围第1项所述之相位比较装置,其中该相角计算电路,系将该第一权値除以该第二权値,并将其作反正切(tan-1)运算获得该相位差。8.一种相位比较方法,用以计算一碟机中二个波形函数之间之一相位差,包括下列步骤:将一测试波形函数延迟一特定时间;将该输出波形函数乘上延迟该特定时间后之该测试波形函数,并将结果积分一周期,获得一第一权値;将该输出波形函数乘上该测试波形函数,并将结果积分该周期,获得一第二权値;以及将该第一权値除以该第二权値;并取其反正切(tan-1)値,获得该测试波形函数以及该输出波形函数之间的一相位差。9.如申请专利范围第8项所述之相位比较方法,其中该周期系为一该测试波形函数之周期。10.如申请专利范围第8项所述之相位比较方法,其中该测试波形函数系为一余弦(cos)函数。11.如申请专利范围第8项所述之相位比较方法,其中该特定时间系为该测试波形函数之周期的四分之一。12.如申请专利范围第8项所述之相位比较方法,其中该特定时间系为该测试波形函数之周期的四分之一再加上任意整数倍之周期。图式简单说明:第1图其所绘示为习知的相位差计算方式绘示图;第2图其所绘示为测试波形函数以及输出波形函数之间相位差之绘示图;以及第3图其所绘示为本发明相位比较装置绘示图绘示图。
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