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1.一种用于推进IC的测试臂控制方法,可决定测试 臂的动作,以测试臂将基座上的IC反覆推进数次,并 以多组感应器检测其负荷、加速度、速度及IC的 推进变位量,从检测出来的资料中求出IC与基座的 合成弹力常数,并以所求得的合成弹力常数让IC的 撞击力小于容许値。2.一种IC处理器控制方法,其 中,第一步骤用来比较以测试臂推进器推进基座IC 时的推进力和事先设定的容许推进力;第二步骤可 依据比较结果,将测试臂的动作控制在容许的推进 力之下。3.如申请专利范围第2项所述之IC处理器 控制方法,具有事先从基座和IC的合成弹力常数値 求取预先设定的容许推进力之步骤。4.如申请专 利范围第2项所述之IC处理器控制方法,可在推进器 与基座IC接触前后,将推进器的作业速度控制在一 定范围内。5.如申请专利范围第3项所述之IC处理 器控制方法,从基座与IC的合成弹力常数値求出容 许推进力的步骤含有以推进器将基座IC反覆推进 数次,以求取合成弹力常数値的平均値之步骤。6. 一种计算测量测试臂的控制系统,其包括负荷感应 器、加速度感应器、变位感应器及测试臂驱动控 制部;负荷感应器可检测对测试臂IC所施加的推进 力,加速度感应器可检测测试臂的作业速度或加速 度,变位感应器可检测测试臂与IC接触后,到停止期 间的推进变位置,测试臂驱动控制部依据从各感应 器所蒐集的资料,求出IC与基座的合成弹力常数値, 将IC的撞击力维持在容许値范围内,并以最快速度 驱动测试臂。7.如申请专利范围第6项所述之控制 系统,其具有一记忆体,该记忆体内事先储存有测 试臂的作业速度、测试臂的制动位置、停止位置 、制动后测试臂的作业速度、容许的推进变位量 及容许的推进力。8.如申请专利范围第6项所述之 控制系统,可用上述控制方法,从IC的推进变位量与 合成弹力常数値求出容许値。9.如申请专利范围 第8项所述之控制系统,其可让测试臂快速移动至 制动位置,并以规定的低速度从制动位置移动。10. 如申请专利范围第6项所述之控制系统,其配备有 显示控制内容的监视器。11.如申请专利范围第7项 所述之控制系统,可比较所设定的起始条件与各感 应器所蒐集的检测资料,若检测资料与起始条件不 同,则修正起始条件。图式简单说明: 第一图为本发明测试臂控制系统的局部简图。 第二图为第一图中电脑的操作流程图。 第三图为IC被测试臂前端的推进器推进基座时的 剖面图。 第四图为受检测的IC斜视图。 第五图为基座的斜视图。 第六图为基座的保护板被推进器推进IC插件内,基 座的接点栓突出之斜视图。 |
