发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY MONITORING PROCESSES FOR MANUFACTURING MICROSTRUCTURED SURFACES IN THE PRODUCTION OF SEMICONDUCTORS |
摘要 |
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申请公布号 |
IL143478(D0) |
申请公布日期 |
2002.04.21 |
申请号 |
IL19990143478 |
申请日期 |
1999.12.02 |
申请人 |
SEMICONDUCTOR 300 GMBH & CO. KG;FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. |
发明人 |
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分类号 |
G01R31/302;G01N21/21;G03F7/20;H01L21/66;H01L23/544;(IPC1-7):G01N |
主分类号 |
G01R31/302 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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