发明名称 METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY MONITORING PROCESSES FOR MANUFACTURING MICROSTRUCTURED SURFACES IN THE PRODUCTION OF SEMICONDUCTORS
摘要
申请公布号 IL143478(D0) 申请公布日期 2002.04.21
申请号 IL19990143478 申请日期 1999.12.02
申请人 SEMICONDUCTOR 300 GMBH & CO. KG;FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. 发明人
分类号 G01R31/302;G01N21/21;G03F7/20;H01L21/66;H01L23/544;(IPC1-7):G01N 主分类号 G01R31/302
代理机构 代理人
主权项
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