发明名称 MULTIPLEX ASSAYS USING NANOPARTICLES
摘要 <p>Cette invention concerne un procédé qui permet de détecter la liaison entre des sites de liaison, et qui comprend les opérations suivantes: obtention d'une population de nanoparticles N1, .... Nx présentant chacune au moins une propriété de champ électrique caractéristique et au moins un premier site de liaison, laquelle propriété de champ électrique caractéristique code pour le premier site de liaison correspondant de chaque nanoparticule ; adjonction d'un échantillon à analyser qui comprend éventuellement au moins un analyte avec au moins un second site de liaison capable de se lier audit premier site de liaison, ledit analyte et/ou lesdites nanoparticules N1, .... or Nx possédant au moins une propriété détectable qui change au moment de la liaison avec ledit second site de liaison et qui est différente de la propriété de champ électrique ; application d'un champ électrique ; séparation de ladite population de nanoparticules en fonction de ladite propriété de champ électrique ; et mesure de la présence ou de l'absence d'un changement survenu dans au moins une propriété détectable.</p>
申请公布号 WO2002031179(A2) 申请公布日期 2002.04.18
申请号 EP2001011765 申请日期 2001.10.11
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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