发明名称 具有过量的A-位及B-位调节剂的ABO<SUB>3</SUB>薄膜及其制造方法
摘要 一种制造集成电路电容器(10,20,30)的方法,其中用的介电层(15,26,37)包括具有添加的过量的A-位和B-位材料,如钡及钛的BST。制备一种有机金属皂或金属皂前体溶液(P42),前体溶液包含掺入过量的A-位及B-位材料如钡及钛的纯度高于99.999%的BST备用溶液,钡的含量为0.01-100mol%,钛的含量为0.01-100mol%。然后进行二甲苯交换(P44)来调节对基底转涂用的溶液的粘度。前体溶液转涂在第1个电极上(P45),在400℃干燥(P46)2到10分钟,然后在650℃到800℃热处理(P47)约1小时以形成含过量的钛的BST层。淀积(P48)上第2个电极,刻制图形(P49)并在650℃及800℃之间热处理约30分钟。所得的电容器(10,20,30)的介电常数增大,而漏电电流几乎不变。
申请公布号 CN1083161C 申请公布日期 2002.04.17
申请号 CN95194766.4 申请日期 1995.06.30
申请人 西梅特里克司有限公司;松下电器产业株式会社 发明人 吾妻正道;C·帕斯迪阿劳霍;M·C·斯各特
分类号 H01L27/108;H01L21/8242;H01L21/316 主分类号 H01L27/108
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 钟守期;罗才希
主权项 1.一种制造用于集成电路(10,20,30)的钛酸钡锶层的方法,其中所述钛酸钡锶层(15,26,37)包含超过形成由式ABO3定义的钛酸钡锶层所必需的B-位材料的化学计算量的B-位材料,所述方法包括提供(P42)一种含钡、锶和钛的初始液态前体的步骤;其中钡和锶是A-位材料和钛是B-位材料,钡、锶和钛以形成所述化学计量的钛酸钡锶的量存在,所述方法的特征在于下列步骤:掺入(P42)过量的B-位材料到所述初始液态前体中以制成一种溶液,所述的过量的B-位材料选自Cr、Zr、Ta、Mo、W和Nb,其量为所述化学计算量的B-位材料的量的0.01%-100%;将该溶液涂布(P45)在基底上;使该溶液干燥;和将该溶液在氧中加热(P46,P47)以形成含过量的B-位材料的钛酸钡锶层。
地址 美国科罗拉多州