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发明名称 APPARATUS AND METHOD FOR TEMPERATURE CONTROL OF IC DEVICE DURING TEST
摘要
申请公布号 EP1196790(A1) 申请公布日期 2002.04.17
申请号 EP20000947340 申请日期 2000.07.14
申请人 SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES, INC. 发明人 DIBATTISTA, LARRY;MALINOSKI, MARK;SHITARA, TOMOYA
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/316 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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