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发明名称 TEST INTERFACE FOR ELECTRONIC CIRCUITS
摘要
申请公布号 KR20020028159(A) 申请公布日期 2002.04.16
申请号 KR1020017015187 申请日期 2001.11.27
申请人 发明人
分类号 G01R1/073 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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