| 摘要 |
<p>본 발명은 폴리에틸렌 및 실리콘 코팅 처리된 이형지에 광을 조사시켜 반사되는 빛의 강도를 측정하여 불균일 도포면을 찾아내는 검출장치에 관한 것으로서, 폴리에틸렌(Polyethylene)으로 표면 처리된 이형지에 실리콘 코팅하기 위한 실리콘 도포기와, 상기 실리콘 도포기에 의해 실리콘(Silicon) 코팅된 이형지에 점착제를 도포하는 점착제 도포기와, 상기 이형지의 이동경로 상에 위치하며 이형지 표면과 소정의 각을 이루는 빛(beam)을 입사(irradiate)하는 적어도 하나 이상의 광원(lighting source)과, 상기 각 광원으로부터 출력되어 이형지 표면에 반사(reflect)되는 빛을 분별하여 검출하는 광검출장치(photo detector)와, 상기 각 광검출장치에 의해 검출된 빛의 전 파장의 합을 구하고 이 정보에 따라 제어신호를 출력하는 제어부를 포함하여 구성된다.</p> |
