发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur absoluten Positionsbestimmung
摘要 Es wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur absoluten Positionsbestimmung zweier zueinander beweglicher Objekte über eine bestimmte Messdistanz angegeben. Hierbei werden aus der Abtastung einer ersten Messteilung mit einer ersten Teilungsperiode erste periodische Abtastsignale erzeugt; aus der Abtastung einer zweiten Messteilung mit einer zweiten Teilungsperiode resultieren zweite periodische Abtastsignale, wobei die zweite Teilungsperiode feiner als die erste Teilungsperiode gewählt ist. Die ersten und zweiten Abtastsignale werden jeweils interpoliert und anschließend die ersten und/oder zweiten Abtastsignale in Bezug auf eine ideale Phasenlage zueinander korrigiert, indem die ersten und/oder zweiten interpolierten Abtastsignale mit Phasenkorrekturwerten beaufschlagt werden. Hierzu wird ein Phasenkorrekturwert für mindestens einen Teilabschnitt bestimmt, wobei sich der Phasenkorrekturwert als Mittelwert aus der maximalen und minimalen Phasenlageabweichung der Ist-Phasenlage von der Soll-Phasenlage ergibt (Figur 1).
申请公布号 DE10049502(A1) 申请公布日期 2002.04.11
申请号 DE20001049502 申请日期 2000.10.06
申请人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH 发明人 OBERHAUSER, JOHANN
分类号 G01D5/244;G01D5/245;(IPC1-7):G01B21/02;G01B7/02;G01D5/249 主分类号 G01D5/244
代理机构 代理人
主权项
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