发明名称 |
IC TESTER AND ITS COOLING METHOD |
摘要 |
PROBLEM TO BE SOLVED: To miniaturize the whole structure of an IC tester. SOLUTION: The cooling air is introduced from below an IC tester body H and exhausted upward.
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申请公布号 |
JP2002107407(A) |
申请公布日期 |
2002.04.10 |
申请号 |
JP20000297483 |
申请日期 |
2000.09.28 |
申请人 |
ANDO ELECTRIC CO LTD |
发明人 |
KOIDE HIROMICHI |
分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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