发明名称 IC TESTER AND ITS COOLING METHOD
摘要 PROBLEM TO BE SOLVED: To miniaturize the whole structure of an IC tester. SOLUTION: The cooling air is introduced from below an IC tester body H and exhausted upward.
申请公布号 JP2002107407(A) 申请公布日期 2002.04.10
申请号 JP20000297483 申请日期 2000.09.28
申请人 ANDO ELECTRIC CO LTD 发明人 KOIDE HIROMICHI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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