发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur elektrooptischen Messung elektrischer Spannung
摘要 Das Verfahren sowie die Vorrichtung zur optischen Messung einer Spannung U nutzen ein faseroptisches Interferometer (30), bei dem ein Lichtweg in zwei Lichtwege aufgespalten wird, die in sich geschlossen sind und asymmetrisch an den in sich geschlossenen Lichtwegen einen zusätzlichen Phasenmodulator (23) enthalten, der von der zu messenden Spannung U beaufschlagt wird. Die durch die zu messende Spannung U erzeugte Phasendifferenz OMEGA wird über ein Rückstellsignal gemessen, das jene Phasendifferenz OMEGA kompensiert. Zusätzlich wird die optische Länge des Lichtwegteils (32) des Interferometers (30) durch das Interferometer (30) gemessen und daraus eine Modulationsfrequenz f abgeleitet. Aufgrund einer Veränderung von f kann zusätzlich die berechnete Spannung korrigiert werden. Aus der gemessenen Phasendifferenz OMEGA kann durch Integration die zu messende Spannung U berechnet werden.
申请公布号 DE10044197(A1) 申请公布日期 2002.04.04
申请号 DE20001044197 申请日期 2000.09.07
申请人 LITEF GMBH 发明人 HANDRICH, EBERHARD
分类号 G01R15/24;(IPC1-7):G01R15/24;G01C19/72 主分类号 G01R15/24
代理机构 代理人
主权项
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