发明名称 Semiconductor integrated circuit with a testable block
摘要
申请公布号 EP0699920(B1) 申请公布日期 2002.04.03
申请号 EP19950113487 申请日期 1995.08.28
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 发明人 MOTOHARA, AKIRA;TAKEOKA, SADAMI;KISHI, TETSUJI;NAKAJIMA, MASAITSU
分类号 G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28;G06F11/267;G01R31/318 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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