发明名称 |
用于测试电子电路的方法和根据该方法的可测试集成电路 |
摘要 |
本发明提出一种测试方法和与之相联系的由信息交换通道互联的功能组件组成的电子电路设置。各种这样的通道被供以一插入中继点和一中断开关作为测试组件对。中继点有两个无源端口和一个有源端口。开关有一个无源端口和两个通过无源控制端口选择的有源端口。以这种方式插入通道和从通道中断变得方便。这时插入是在第一通道完成而中断是在第二通道上完成,从而在位于第一通道的中断点和第二通道的开关之间所有组件均被测试。$ |
申请公布号 |
CN1082302C |
申请公布日期 |
2002.04.03 |
申请号 |
CN93101529.4 |
申请日期 |
1993.02.15 |
申请人 |
皇家菲利浦电子有限公司 |
发明人 |
G·H·范贝凯尔;M·E·朗克肯;R·W·J·J·萨伊斯 |
分类号 |
H04L29/14;G06F11/00;G01R31/28 |
主分类号 |
H04L29/14 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
杨凯;程天正 |
主权项 |
1.一种测试电子电路的方法,该电子电路具有:多个由信息交换信道互联的功能组件,每个信道分别由一有源端口和无源端口连至相应的功能组件,通信起始于该有源端口而在无源端口处于等待状态,所述方法包括:给一个或多个所述信道提供一个插入中继点和/或中继开关以形成一组测试组件,该组测试组件在测试以外的时间仅形成部分信道内信息交换,和经由所述信道的第一个信道的插入中继点的无源端口插入第一测试信号,所述第一测试信号代表带有在所述第一信道上的无源端口的任一组件上在测试中用于第一信道的测试信号。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |