发明名称 | 光电转换器件的光电转换特性测试方法和测试设备 | ||
摘要 | 提供一种用价格便宜的测试系统能在户内或户外精确测试例如模块或矩阵的大面积叠层光电转换器件的光电转换特性的方法,能测有多种光谱状态的辐射光下的光电转换特性,能评估光电转换器件的每个元件电池的短路电流从标准测试条件的偏移,对比测到的光电转换特性和评估的偏移,由此得到在标准测试条件下的光电转换器件的光电转换特性。 | ||
申请公布号 | CN1341863A | 申请公布日期 | 2002.03.27 |
申请号 | CN01137176.5 | 申请日期 | 2001.07.05 |
申请人 | 佳能株式会社 | 发明人 | 松山深照 |
分类号 | G01R31/00;G01R31/26;G01M11/00;G01N21/00 | 主分类号 | G01R31/00 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1、叠层光电转换器件的光电转换特性的测试方法,该光电转换器件具有多个叠置的半导体结的结构,该测试方法包括以下步骤:在有多个不同光谱状态的辐射光下测试光电转换器件的输出特性;评估由光电转换器件的多个半导体结中的每个半导体结形成的元件电池的短路电流从标准测试条件的偏移;和将测得的光电转换特性与评估的短路电流从标准测试条件的偏移进行比较,得到光电转换器件在标准测试条件下的光电转换特性。 | ||
地址 | 日本东京 |