发明名称 METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE CURVATURE OF A REFLECTIVE SURFACE
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen der Biegung einer reflektierenden Oberfläche (2), insbesondere einer in Längs- und Querrichtung gebogenen Glasscheibe (5), bei dem von der Oberfläche (2) reflektiertes, von einer linienförmigen Lichtquelle (3) ausgehendes Licht von einer CCD-Kamera (4) aufgenommen wird, wobei ausgehend von dem durch die CCD-Kamera (4) aufgenommenen reflektierten Licht der örtliche Neigungswinkel der Oberfläche (2) ermittelt wird. Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zum Ermitteln der Biegung einer reflektierenden Oberfläche (2), umfassend eine linienförmige Lichtquelle (3) und eine CCD-Kamera (4). Die Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren bzw. eine Vorrichtung zu schaffen, die eine einfache und zuverlässige Ermittlung der Biegung einer wenigstens teilweise reflektierenden Oberfläche ermöglicht, wird erfindungsgemäss dadurch gelöst, dass die CCD-Kamera eine Zeilenkamera (4) ist, und dass die Zeile der CCD-Kamera (4) quer zur Erstreckung der Lichtquelle (3) angeordnet ist.</p>
申请公布号 WO2002023124(A1) 申请公布日期 2002.03.21
申请号 DE2001003499 申请日期 2001.09.12
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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