半导体试验装置的比较器

摘要

本发明中设置了差动接受式比较器电路，实现不受同相信号影响的差动输出比较器。为此，设置了补偿加法器(30)，用来接受来自DUT的差动信号(101、102)，对输出信号(111、112)施加补偿电压，另外还设置了比较器(71)，用来接受来自补偿加法器(30)的两输出信号，对两输出信号进行比较，然后输出。$#!

主权项

1、一种半导体试验装置的比较器，用来对来自DUT输出的两个差动信号之间的差动动作进行试验，该比较器包括：笫1开关，用来接受来自所述DUT的一个差动信号，通过在该差动信号和固定电位之间进行切换来输出其中之一；第2开关，用来接受来自所述DUT的另一个差动信号，通过在该差动信号和所述固定电位之间进行切换来输出其中之一；补偿电路，用来接受来自所述第1开关和第2开关的所述差动信号，并生成配备了规定的补偿电压的两个输出信号；以及比较器，接受来自所述补偿电路的所述两个输出信号并进行比较操作。