| 摘要 |
<p>플래쉬메모리와 같이 블록기능을 갖는 메모리를 단시간에 테스트할 수 있는 메모리 시험장치를 제공한다. 피시험메모리(MUT)의 전(全)비트 불량을 격납할 수 있는 불량해석메모리(AFM)에 더하여 피시험메모리가 갖는 블록수에 대응하는 기억용량을 갖는 제1 배드블록메모리(BBM)와 제2 배드블록메모리(CFM)를 설치한다. 제1 배드블록메모리에는 초기테스트 결과를 격납하고, 초기테스트 결과를 마스크데이터로 이용하여 초기테스트에서 불량으로 판정된 배드블록은 마스크하여 기능테스트를 생략하고, 패스블록만을 기능테스트한다. 이 기능테스트 결과를 제2 배드블록메모리에 격납하고, 이 제2 배드블록메모리에 배드블록데이터가 격납되어 있는 블록만을 구제 가능한지 여부를 판정처리한다.</p> |
