发明名称 记录多层光学可记录资讯载体之方法
摘要 本发明系关于将资料写在多层光学资讯载体(1)的一种方法和一种仪器。在光学记录系统中,资料可经由照在选定层的聚焦雷射光束(2),写入多层载体(1)中选定的一层(41)。中间层(42)和雷射光束(2)产生交互作用。将资料写入多层载体(1)的一个重要的性质是这些中间层(42)的穿透系数。该穿透系数视中间层(42)的物理性质和是否已记录了资料而定。该仪器包括了一电路(55),当资料写在记录层(41至43)上时,用以得出关于其穿透系数改变的资料(711)。以此资料(711)为基础,一电路决定了在记录层(41到43)上记录资料的序列。序列可被选定以使雷射光束(2)的强度降至最小,因此排除载体(1)中不必要的加热,并可以使用相当简单和便宜的雷射光源(3)。
申请公布号 TW479241 申请公布日期 2002.03.11
申请号 TW088119467 申请日期 1999.11.08
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 哈姆阿尔伯特瓦润葛
分类号 G11B7/00 主分类号 G11B7/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种记录资料的方法,将资料记录在一至少有两个重叠之光学可记录层的光学可记录资讯载体,该方法包括第一步骤,其中经由将该资讯载体第一面曝于一雷射光,将资料记录在该光学可记录层的第一层上,接着第二步骤,其中也是经由将该资讯载体第一面曝于雷射光,而将资料记录在该光学可记录层的第二层上,该第二层是不同于第一层的,其特征在于该方法包括第一准备步骤,其中决定了在记录资料于可记录层以前,相较于记录以后,该光学可记录层的有效穿透性质之改变,接着第二准备步骤,其中决定了该光学可记录层之第一和第二层的记录序列。2.如申请专利范围第1项之方法,其特征在于该第一准备步骤,包括从该光学可记录资讯载体上一区域,读取关于该光学可记录层之有效穿透性质之改变的资料,该区域包含了有关该光学可记录资讯载体的物理性质。3.如申请专利范围第1项之方法,其特征在于该第一准备步骤包括第一测量步骤,其中测量资料记录在该可记录层以前,该光学可记录层的有效穿透性质,接着第二测量步骤,其中测量资料记录在该可记录层以后,该光学可记录层的有效穿透性质,然后是比较步骤,其中将已测得在记录资料于该光学可记录层以前的该光学可记录层之有效穿透性质,和在记录资料于该光学可记录层以后的该光学可记录层之有效穿透性质作比较。4.如申请专利范围第1,2或3项之方法,其特征在于该第一和第二光学可记录层系相继地被刻写,如果该光学可记录层的有效穿透性质,于记录资料以后,对应于记录以前,是呈现减少的情形,则从位在距离雷射光源较远的光学记录层开始,依序写入,到位在距离雷射光源较近的光学记录层结束。5.如申请专利范围第1,2或3项之方法,其特征在于该第一和第二光学可记录层系相继地被刻写,如果记录资料于该光学可记录层以后,其有效穿透性质,对应于记录以前,是呈现增加的情形,则从位于距离雷射光源较近的光学记录层开始,依序写入资料,到位于距离雷射光源较远的光学记录层结束。6.一种记录仪器,用以将资料记录在一至少有两个重叠之光学可记录层的光学可记录资讯载体,该仪器包括一装置,用以经由将该资讯载体第一面曝于雷射光而将资料记录在该光学可记录层的第一层,然后也是经由将该资讯载体第一面曝于雷射光以将资料记录在该光学可记录层的第二层,而该第二层是不同于该第一层的,该记录仪器的特征在于该仪器可决定,记录资料于该可记录层以前,相较于记录以后,该光学可记录层之有效穿透特性的改变,以及该仪器可决定记录该第一和第二光学可记录层的序列。图式简单说明:图1是多层光学可记录资讯载体的纵向截面图,其中来自雷射光源的聚焦雷射光束,照在即将写入资料的记录层;图2是已写入资料并有雷射光照射的中间层之部份平面视野图;图3显示的是根据本发明之方法的流程图;以及图4是根据本发明之记录仪器中一装置的方块图,该仪器用来记录资料于多层光学可记录资讯载体上。
地址 荷兰