| 摘要 |
<p>본 발명은 타임스위치의 내부 경로 시험을 통해서 타임스위치의 장애가 어느 보드 및 구간에서 발생하였는지를 정확하게 파악할 수 있도록 한 교환기 타임스위치의 내부경로 시험방법에 관한 것으로, 이러한 본 발명은, 타임스위치 정합장치와 제어메모리 관리장치를 타임스위치 프로세서에서 경로시험시 상기 타임스위치 프로세서에서 타임스위치 정합장치의 내부 루프백 경로를 시험하는 방법과; 상기 제어메모리 관리장치의 내부 루프백을 시험하는 방법과; 상기 타임스위치 정합장치에서 제어메모리 관리장치로 경로를 연결한 후, 상기 타임스위치 정합장치에서 임의의 데이터를 쓰기 하여 제어메모리 관리장치에서 읽기후 결과를 비교하는 시험방법과; 상기 제어메모리 관리장치에서 타임스위치 정합장치로 경로를 연결한 후, 제어메모리 관리장치에서 임의의 데이터를 쓰기하여 타임스위치 정합장치에서 읽기 후 결과를 비교하는 시험방법으로, 타임 스위치의 내부 경로를 시험함으로써, 타임스위치의 장애 부분을 정확히 파악할 수 있다.</p> |
