| 发明名称 |
Overflate-elektroskop for måling av elektrostatiske egenskaper til helt eller delvis isolerende overflateskikt |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
NO20021102(D0) |
申请公布日期 |
2002.03.06 |
| 申请号 |
NO20020001102 |
申请日期 |
2002.03.06 |
| 申请人 |
SINTEF ENERGIFORSKNING AS |
发明人 |
SIGMOND, REIDAR SVEIN |
| 分类号 |
G01N;G01N27/60;(IPC1-7):G01N |
主分类号 |
G01N |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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