发明名称 | 晶片的抛光方法及装置 | ||
摘要 | 用一个修整盘来修整抛光垫;修整盘的温度在化学—机械抛光(CMP)过程中是受到控制的。修整时抛光垫的温度保持不变,因此可以实现均衡的化学—机械抛光。$#! | ||
申请公布号 | CN1080166C | 申请公布日期 | 2002.03.06 |
申请号 | CN97103428.1 | 申请日期 | 1997.02.28 |
申请人 | 冲电气工业株式会社 | 发明人 | 下川公明 |
分类号 | B24B39/06 | 主分类号 | B24B39/06 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒;叶恺东 |
主权项 | 1.一种抛光晶片的方法,包括以下步骤:将晶片压靠在一个抛光轮的抛光部分上,并使晶片与抛光轮之间产生相对运动以便抛光晶片的表面;控制一个修整工具使之具有预定的温度;和用该修整工具对抛光部分进地修整。 | ||
地址 | 日本东京 |