| 发明名称 |
TEST CIRCUIT FOR INTEGRATED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1145442(A3) |
申请公布日期 |
2002.03.06 |
| 申请号 |
EP20000959482 |
申请日期 |
2000.08.28 |
| 申请人 |
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.;PHILIPS SEMICONDUCTORS INC. |
发明人 |
MICHEL, JEAN-YVES |
| 分类号 |
G01R31/316;G01R31/28;H03M1/10;(IPC1-7):H03M1/10 |
主分类号 |
G01R31/316 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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