发明名称 Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit Kupferverdrahtung
摘要 Ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung enthält die folgenden Schritte: (a) Herstellen eines Halbleitersubstrates, das mit einer Isolierschicht gebildet ist, die eine Verdrahtungsvertiefung hat; (b) Bilden einer leitfähigen Schicht durch chemische Dampfabscheidung auf einer Oberfläche des Halbleitersubstrates, die eine Innenfläche der Verdrahtungsvertiefung enthält, während Lampenlicht auf das Halbleitersubstrat angewendet wird, wobei die leitfähige Schicht im wesentlichen Kupfer umfaßt. Bei diesem Verfahren wird eine Cu-Verdrahtung mit einer hohen Adhäsionskraft durch chemische Dampfabscheidung gebildet.
申请公布号 DE10120184(A1) 申请公布日期 2002.02.28
申请号 DE20011020184 申请日期 2001.04.24
申请人 FUJITSU LTD., KAWASAKI 发明人 OHTSUKA, NOBUYUKI;SHIMIZU, NORIYOSHI
分类号 C23C16/18;H01L21/28;H01L21/285;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/52;(IPC1-7):H01L21/768;H01L23/532 主分类号 C23C16/18
代理机构 代理人
主权项
地址