发明名称 |
Test method for a microcontroller using an external test device |
摘要 |
<p>Das beschriebene Verfahren zeichnet sich dadurch aus, daß die externe Testvorrichtung in der programmgesteuerten Einheit ein das Testen der programmgesteuerten Einheit veranlassendes, durchführendes oder unterstützendes Programm zur Ausführung bringt. Dadurch können programmgesteuerte Einheiten unter allen Umständen mit minimalem Aufwand schnell und zuverlässig getestet werden. <IMAGE></p> |
申请公布号 |
EP1182555(A2) |
申请公布日期 |
2002.02.27 |
申请号 |
EP20010118167 |
申请日期 |
2001.07.26 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
ARNOLD, RALF;KOCK, ERNST-JOSEF, DR.;KLOSE, THORSTEN |
分类号 |
G06F11/26;G06F11/267;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G06F11/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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