| 主权项 |
1.一种光资讯记录方法,系根据由表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,以在该光资讯记录媒体上形成长度对应于前述凹坑形成期间的凹坑,其特征在于:在记录实际的资讯前,依序变化照射在光资讯记录媒体上的雷射光之记录功率,以在该光资讯记录媒体上进行记录,并检测出各记录功率的不对称値,以求出不对称値和记录功率的第1关系;其次,将记录功率固定为既定记录功率,依序变化雷射光相对光资讯记录媒体的空间位置关系,以在该光资讯记录媒体上进行记录,并检测出各空间位置关系的不对称値及不同长度凹坑的反射光量比,以求出不对称値和反射光量比的第2关系;而且,根据第1关系和第2关系,求出记录功率和反射光量比的第3关系,并求出对应于最适记录功率的最适反射光量比;当记录实际的资讯时,藉由检测出反射光量比,根据第3关系来求出对应于该检测出的反射光量比之记录功率,修正该记录功率,以使该检测出的反射光量比和最适反射光量比的差份为零。2.如申请专利范围第1项之光资讯记录方法,其中,前述依序变化雷射光相对光资讯记录媒体的空间位置关系,系藉由以既定步骤来改变为对光资讯记录媒体照射雷射光之光拾讯器的聚焦、倾斜、循迹中之至少一种伺服系统的偏置来进行。3.如申请专利范围第1项之光资讯记录方法,系根据前述第1关系求出最适记录功率,并将前述既定记录功率设定为该所求出的最适记录功率。4.如申请专利范围第1项之光资讯记录方法,其中前述全反射光量比,系检测出第1全反射光量(来自比雷射光点的点径小的第1凹坑)及第2全反射光量(来自比雷射光点的点径大的第2凹坑),根据该第1全反射光量对第2全反射光量的比来算出。5.如申请专利范围第4项之光资讯记录方法,其中前述第1凹坑是资讯记录时所采用之最小长度的凹坑,前述第2凹坑是资讯记录时所采用的最大长度的凹坑。6.一种光资讯记录方法,系根据由表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成之数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,以在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征在于:在记录实际的资讯前,当进行记录雷射光强度最适化处理时,依序变化照射在光资讯记录媒体上的雷射光之记录功率,以在该光资讯记录媒体上进行第1记录(记录试验数据);固定记录功率后,依序变化雷射光对应于光资讯记录媒体的空间位置关系,以在该光资讯记录媒体上进行第2记录(记录试验数据);当进行第1记录时,针对各记录功率,检测出主要依存于记录功率的第1资讯、依存于记录功率和空间位置关系的第2资讯及不对称値后,记忆住记录功率和第1资讯的第1关系、记录功率和第2资讯的第2关系、不对称値和记录功率的关系;并根据不对称値和记录功率的关系,求出能得到最适不对称値的最适记录功率后记忆住,同时根据第1关系和第2关系,记忆住对应于最适记录功率的最适第1资讯及最适第2资讯;当进行第2记录时,检测出主要依存于空间位置关系的第3资讯及不对称値后,记忆住不对称値和第3资讯的关系;根据进行第1记录时所记忆的不对称値和记录功率的关系、和进行第2记录时所记忆的不对称値和第2资讯的关系,求出记录功率和第3资讯的第3关系后记忆住,并根据该第3关系,记忆住对应最适记录功率的最适第3资讯;当记录实际的资讯时,检测出第1资讯及第2资讯及第3资讯后,求出该检测出的第1资讯和最适第1资讯的第1差份、第2资讯和最适第2资讯的第2差份、第3资讯和最适第3资讯的第3差份;当第3的差份是零、第1差份不是零时,根据所检测出的第1资讯和第1关系求出记录功率,修正该记录功率以使第1的差份成为零;当第3差份不是零、第1差份是零时,根据所检测出的第1资讯和第3关系求出记录功率,修正该记录功率以使第3差份成为零;当第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是零时,根据所检测出的第2资讯和第2关系求出记录功率,修正该记录功率,以使第2的差份成为零。7.如申请专利范围第6项之光资讯记录方法,其中,前述依序变化雷射光相对光资讯记录媒体的空间位置关系,系藉由以既定步骤来改变为对光资讯记录媒体照射雷射光之光拾讯器的聚焦、倾斜、循迹中之至少一种伺服系统的偏置来进行。8.如申请专利范围第6项之光资讯记录方法,其中前述第2记录,是将记录功率固定为根据不对称値和记录功率的关系所求得的最适记录功率后,进行记录。9.如申请专利范围第6项之光资讯记录方法,其中前述第1资讯,是由比雷射光点的点径大的凹坑之前端部的反射光强度极大値和后端部的反射光强度平均値之差所构成的差份光强度値。10.如申请专利范围第9项之光资讯记录方法,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所采用的最大长度的凹坑。11.如申请专利范围第6项之光资讯记录方法,其中前述第2资讯是差份光强度値和反射光量比的差所构成之差分检测値;该差份光强度値,是由比雷射光点的点径大之凹坑的前端部的反射光强度极大値和后端部的反射光强度平均値的差所构成;该反射光量比,是来自比点径小的凹坑之全反射光量对来自比点径大的凹坑之全反射光量的比。12.如申请专利范围第11项之光资讯记录方法,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑;比雷射光点的点径小的凹坑是资讯记录时所使用的最小长度的凹坑。13.如申请专利范围第6项之光资讯记录方法,其中前述第3资讯,是来自比雷射光点的点径小的凹坑之全反射光量对来自比雷射光点的点径大的凹坑之全反射光量的比所构成的反射光量比。14.如申请专利范围第13项之光资讯记录方法,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑;比雷射光点的点径小的凹坑是资讯记录时所使用的最小长度的凹坑。15.一种光资讯记录方法,根据由表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构构的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,以在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征为具备:第1步骤,在记录实际的资讯前,当进行记录雷射光强度最适化处理时,依序变化照射在光资讯记录媒体上的雷射光之记录功率,以在该光资讯记录媒体上记录试验数据;第2步骤,在第1步骤中,对应于记录功率,检测出差份光强度値(由比雷射光点的光点径大之凹坑的前端部之反射光强度极大値和后端部之反射光强度平均値的差所构成)、反射光量比(由来自比光点径小的凹坑之全反射光量对来自比光点径大的凹坑之全反射光量的比所构成)及不对称値,并将差份光强度値和反射光量比的差当作差份检测値来算出;第3步骤,根据第2步骤所检测出的差份光强度値,求出表示记录功率和差份光强度値的关系之第1检测式,记忆之;第4步骤,根据第2步骤所算出的差份检测値,求出表示记录功率和差份检测値的关系之第2检测式,记忆之;第5步骤,根据第2步骤所检测出的不对称値,求出表示不对称値和记录功率的关系之基准式,记忆之;第6步骤,根据第5步骤所记忆的基准式,求出能得到最适不对称値的最适记录功率,记忆之;第7步骤,根据第6步骤所求得的最适记录功率和第1检测式,把最适记录功率所对应的差份光强度値当作最适差份光强度値,记忆之;第8步骤,根据第6步骤所求得的最适记录功率和第2检测式,把最适记录功率所对应的差份检测値当作最适基准化差份检测値,记忆之;第9步骤,将记录功率固定为第6步骤所求得的最适记录功率后,以既定步骤来改变为对光资讯记录媒体照射雷射光之光拾讯器的聚焦、倾斜、循迹中之至少一种伺服系统的偏置,以在该光资讯记录媒体上记录试验数据;第10步骤,在第9步骤中,检测出各偏置之反射光量比及不对称値;第11步骤,根据第10步骤所检测出的反射光量比及不对称値,求出不对称値和反射光量比的关系式;第12步骤,根据第11步骤所求得的关系式和第5步骤所求得的基准式,求出表示记录功率和反射光量比的关系之第3检测式,记忆之;第13步骤,根据第6步骤所求得的最适记录功率和第3检测式,将最适记录功率所对应的反射光量比当作最适反射光量比,记忆之;第14步骤,当记录实际的资讯时,检测出差份光强度値及反射光量比,并算出差份检测値;第15步骤,算出第14步骤所检测出的差份光强度値和最适差份光强度値的第1差份;第16步骤,算出第14步骤所算出的差份检测値和最适基准化差份检测値的第2差份;第17步骤,算出第14步骤所检测出的反射光量比和最适反射光量比的第3差份;第18步骤,当第3差份是零、第1差份不是零时,根据第14步骤所检测出的差份光强度値和第1检测式求出记录功率,修正记录功率,以使第1差份成为零;第19步骤,当第3差份不是零、第1差份是零时,根据第14步骤所检测出的反射光量比和第3检测式求出记录功率,修正记录功率,以使第3差份成为零;以及第20步骤,当第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是零时,根据第14步骤所算出的差份检测値和第2检测式求出记录功率,修正记录功率,以使第2差份成为零。16.如申请专利范围第15项之光资讯记录方法,其中前述第1检测式-第3检测式是分别由一次函数所构成。17.如申请专利范围第15项之光资讯记录方法,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑;比雷射光点的点径小的凹坑是资讯记录时所使用的最小长度的凹坑。18.一种光资讯记录装置,系根据由表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,以在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征为具备:光拾讯器,在光资讯记录媒体上照射雷射光,并接受来自该光资讯记录媒体的反射光后输出受光信号;雷射控制机构,用以控制光拾讯器所输出的雷射光之记录功率;伺服控制机构,用以控制光拾讯器的聚焦、循迹、倾斜中之至少一种;反射光量比检测机构,系根据光拾讯器所输出的受光信号,把来自比雷射光点的点径小之凹坑的全反射光量对来自比前述光点径大之凹坑的全反射量之比,当作反射光量比来检测出;不对称値检测机构,系根据光拾讯器所输出的受光信号,检测出该受光信号的不对称値;第1控制机构,当记录实际的资讯前,藉由控制伺服控制机构以依序变化照射光资讯记录媒体的雷射光之记录功率,而在该光资讯记录媒体上进行第1记录,并藉由不对称检测机构检测出各记录功率之不对称値,以求出该不对称値和记录功率的第1关系;其次,将记录功率固定为既定记录功率后,以既定的步骤依序变化光拾讯器的聚焦、倾斜、循迹中至少一种的偏置,以在该光资讯记录媒体上进行第2记录,并藉由不对称检测机构及反射光量比检测机构来检测出各偏置之不对称値及反射光量比,以求出不对称値和反射光量比的第2关系,且根据第1关系和第2关系来求出记录功率和反射光量比的第3关系,并求出最适记录功率所对应的最适反射光量比;以及第2控制机构,当记录实际的资讯时,藉由反射光量比检测机构检测反射光量比,根据第3关系求出该检测的反射光量比所对应的记录功率,修正该记录功率,以使该检测出的反射光量比和最适反射光量比的差份成为零。19.如申请专利范围第18项之光资讯记录装置,其中前述第1控制机构,是根据进行第1记录时所求得的第1关系求出最适记录功率,用该所求得的最适记录功率设定第2记录的既定记录功率。20.如申请专利范围第18项之光资讯记录装置,其中前述反射光量比检测机构系具备:第1检测电路,根据光拾讯器所输出的受光信号,检测出来自比雷射光点的点径小的第1凹坑之全反射光量;第2检测电路,根据光拾讯器所输出的受光信号,检测出来自比雷射光点的点径大的第2凹坑之全反射光量;以及除法电路,用以将第1检测电路的检测输出除以第2检测电路的检测输出。21.如申请专利范围第20项之光资讯记录装置,其中前述第1凹坑,是资讯记录时所使用的最小长度的凹坑,第2凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑。22.一种光资讯记录装置,系根据由表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,以在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征为具备:光拾讯器,用以在光资讯记录媒体上照射雷射光,并接受来自该光资讯记录媒体的反射光后输出受光信号;雷射控制机构,用以控制光拾讯器所输出的雷射光之记录功率;伺服控制机构,用以控制雷射光相对于光资讯记录媒体的空间位置关系;资讯检测机构,根据光拾讯器所输出的受光信号,检测出主要依存于记录功率的第1资讯、依存于记录功率和空间位置关系的第2资讯、主要依存于空间位置关系的第3资讯;不对称检测机构,根据光拾讯器所输出的受光信号,检测出该受光信号的不对称値;以及控制机构;该控制机构系具备:第1记录控制机构,在记录实际的资讯前,当进行记录雷射光强度最适化处理时,藉由控制雷射控制机构来依序变化照射于光资讯记录媒体的雷射光之记录功率,以在该光资讯记录媒体上进行记录试验数据的第1记录;第2记录控制机构,藉由控制雷射控制机构及伺服控制机构来固定记录功率后,依序变化雷射光相对光资讯记录媒体的空间位置关系,以在该光资讯记录媒体上进行记录试验数据的第2记录;第1记忆机构,当进行第1记录时,针对各记录功率,根据资讯检测机构的输出来取得第1资讯及第2资讯,并根据不对称値检测机构的输出来取得不对称値,以记忆住记录功率和第1资讯的第1关系、记录功率和第2资讯的第2关系、不对称値和记录功率的关系;第2记忆机构,根据不对称値和记录功率的关系,求出能得到最适不对称値的最适记录功率后记忆之,并根据第1关系及第2关系,记录最适记录功率所对应的最适第1资讯及最适第2资讯;第3记忆机构,当进行第2记录时,根据资讯检测机构的输出取得第3资讯,并根据不对称値检测机构的输出取得不对称値,记忆住不对称値和第3资讯的关系;第4记忆机构,根据第1记录时所记忆的不对称値和记录功率的关系、和第2记录时所记忆的不对称値和第2资讯的关系,求出记录功率和第3资讯的第3关系后记忆之,并根据该第3关系记忆住最适记录功率所对应的最适第3资讯;以及修正机构,当记录实际的资讯时,根据资讯检测机构的输出检测出第1资讯、第2资讯及第3资讯,求出该检测出的第1资讯和最适第1资讯的第1差份、第2资讯和最适第2资讯的第2差份、第3资讯和最适第3资讯的第3差份,当第3差份是零、第1差份不是零时,根据检测出的第1资讯及第1关系求出记录功率,修正该记录功率以使第1差份成为零,当第3差份不是零、第1差份是零时,根据检测出的第3资讯及第3关系求出记录功率,修正该记录功率以使第3差份成为零,当第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是零时,根据检测出的第2资讯及第2关系求出记录功率,修正该记录功率以使第2差份成为零。23.如申请专利范围第22项之光资讯记录装置,其中前述伺服控制机构系具备光拾讯器的聚焦伺服系统、倾斜伺服系统、循迹伺服系统;前述第2记录时之空间位置关系的依序变化,系用既定步骤变化伺服控制机构的聚焦伺服系统、倾斜伺服系统、循迹伺服系统中至少一种的偏置来进行。24.如申请专利范围第22项之光资讯记录装置,其中前述第2记录,系将记录功率固定为根据不对称値和记录功率的关系所求得的最适记录功率后,进行记录。25.如申请专利范围第22项之光资讯记录装置,其中前述第1资讯,是由比雷射光点的点径大的凹坑之前端部的反射光强度极大値和后端部的反射光强度平均値的差所构成之差份光强度値。26.如申请专利范围第25项之光资讯记录装置,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑。27.如申请专利范围第22项之光资讯记录装置,其中前述第2资讯,是由差份光强度値(由比雷射光点的点径大的凹坑之前端部的反射光强度极大値和后端部的反射光强度平均値的差所构成)、和反射光量比(由来自比点径小的凹坑的全反射光量对来自比点径大的凹坑的全反射光量的比所构成)的差所构成的差份检测値。28.如申请专利范围第27项之光资讯记录装置,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑,比雷射光点的点径小的凹坑是资讯记录时所使用的最小长度的凹坑。29.如申请专利范围第22项之光资讯记录装置,其中前述第3资讯,是由来自比点径小的凹坑之全反射光量对来自比点径大的凹坑之全反射光量的比所构成反射光量比。30.如申请专利范围第29项之光资讯记录装置,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑,比雷射光点的点径小的凹坑是资讯记录时所使用的最小长度的凹坑。31.一种光资讯记录装置,系根据由表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,以在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征为具备:光拾讯器,用以在光资讯记录媒体上照射雷射光,并接受来自该光资讯记录媒体的反射光后输出受光信号;雷射控制机构,用以控制光拾讯器所输出的雷射光之记录功率;伺服控制机构,用以控制光拾讯器的聚焦、循迹、倾斜中之至少一种;差份光强度値检测机构,用以检测差份光强度値(由比雷射光点的点径大的凹坑之前端部的反射光强度极大値和后端部的反射光强度平均値的差所构成);反射光量比检测机构,根据光拾讯器所输出的受光信号,把来自比雷射光点的点径小的凹坑之全反射光量对来自比点径大的凹坑之全反射光量的比,当作反射光量比来检测;不对称値检测机构,根据光拾讯器所输出的受光信号来检测出该受光信号的不对称値;以及控制机构;该控制机构系具备:第1记录控制机构,在记录实际的资讯前,当进行记录雷射光强度最适化处理时,藉由控制雷射控制机构来依序变化照射在光资讯记录媒体上的雷射光之记录功率,以在该光资讯记录媒体上记录试验数据;第1取得机构,当利用第1记录控制机构进行记录时,对应记录功率,取得来自差份强度値检测机构之差份强度値、来自反射光量比检测机构之反射光量比、来自不对称値检测机构之不对称値,并把差份光强度値和反射光量比的差当作差份检测値来算出;第1处理机构,根据第1取得机构所取得的差份光强度値,求出表示记录功率和差份光强度値的关系之第1检测式,记忆之;第2处理机构,根据第1取得机构所算出的差份检测値,求出表示记录功率和差份检测値的关系之第2检测式,记忆之;第3处理机构,根据第1取得机构所取得的不对称値,求出表示不对称値和记录功率的关系之基准式,记忆之;第4处理机构,根据第3处理机构所记忆的基准式,求出得到最适不对称値的最适记录功率,记忆之;第5处理机构,根据第4处理机构所求得的最适记录功率和第1检测式,把最适记录功率所对应的差份光强度値当作最适差份光强度値,记忆之;第6处理机构,根据第4处理机构所求得的最适记录功率和第2检测式,把最适记录功率所对应的差份检测値当作最适基准化差份检测値,记忆之;第2记录控制机构,藉由控制雷射控制机构及伺服控制机构,将记录功率固定为第4记录机构所求得的最适记录功率,用既定步骤依序变化为对光资讯记录媒体照射雷射光的光拾讯器之聚焦、倾斜、循迹中之至少一种伺服系统的偏置,以在该光资讯记录媒体上记录试验数据;第2取得机构,当利用第2记录控制机构进行记录时,针对各偏置,取得来自反射光量比检测机构之反射光量比,并取得来自不对称値检测机构之不对称値;第7处理机构,根据第2取得机构所取得的反射光量比及不对称値,求出不对称値和反射光量比的关系式;第8处理机构,根据第7处理机构所求得的关系式和第3处理机构所求得的基准式,求出表示记录功率和反射光量比的关系之第3检测式,记忆之;第9处理机构,根据第4处理机构所求得的最适记录功率和第3检测式,把最适记录功率所对应的反射光量比当作最适反射光量比,记忆之;第3取得机构,当记录实际的资讯时,取得来自差份光强度値检测机构的差份光强度値,并取得来自反射光量检测机构的反射光量比,把差份光强度値和反射光量比的差当作差份检测値来算出;第10处理机构,算出第3取得机构所取得的差份光强度値和最适差份光量强度値的第1差份;第11处理机构,算出第3取得机构所算出的差份光检测値和最适基准化差份检测値的第2差份;第12处理机构,算出第3的取得机构所取得的反射光量比和最适反射光量比的第3差份;第1修正机构,当第3差份是零、第1差份不是零时,根据第3取得机构所取得的差份光强度値和第1检测式,求出记录功率,修正该记录功率以使第1差份成为零;第2修正机构,当第3差份不是零、第1差份是零时,根据第3取得机构所取得反射光量比和第3检测式,求出记录功率,修正该记录功率以使第3差份成为零;以及第3修正机构,当第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是零时,根据第3取得机构所算出的差份检测値和第2检测式,求出记录功率,修正该记录功率以使第2差份成为零。32.如申请专利范围第31项之光资讯记录装置,其中第1检测式-第3检测式是分别由一次函数所构成。33.如申请专利范围第31项之光资讯记录装置,其,中前述差份光强度値检测机构,系具备:检测电路,根据光拾讯器所输出的受光信号,检测来自比雷射光点的点径大的凹坑之受光信号;峰値检测电路,根据检测电路的输出,检测比雷射光点的点径大的凹坑之前端部的反射光强度极大値;取样保持电路,根据检测电路的输出,求出比雷射光点的点径大的凹坑之后端部的反射光强度平均値;以及减法电路,求出峰値检测电路的输出和取样保持电路的输出的差値。34.如申请专利范围第33项之光资讯记录装置,其中前述比雷射光点的点径大的凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑。35.如申请专利范围第31项之光资讯记录装置,其中前述反射光量比检测机构,系具备:第1检测电路,根据光拾讯器所输出的受光信号,检测来自比雷射光点的点径小的第1凹坑之全反射光量;第2检测电路,根据光拾讯器所输出的受光信号,检测来自比雷射光点的点径大的第2凹坑之全反射光量;以及除法电路,用以将第1检测机构的检测输出除以第2检测机构的检测输出。36.如申请专利范围第35项之光资讯记录装置,其中前述第1凹坑是资讯记录时所使用的最小长度的凹坑,第2凹坑是资讯记录时所使用的最大长度的凹坑。37.一种记录着光资讯记录控制程式之记录媒体,其所记录的控制程式,能藉由电脑的处理,以根据表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,而在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征在于:在记录实际的资讯前,依序变化照射光资讯记录媒体的雷射光之记录功率,以在该光资讯记录媒体上进行记录,并针对各记录功率检测不对称値,求出不对称値和记录功率的第1关系;其次,将记录功率固定为既定记录功率,依序变化雷射光相对光资讯记录媒体的空间位置关系,以在该光资讯记录媒体上进行记录,并针对各空间位置关系检测不对称値及不同长度凹坑的反射光量比,求出不对称値和反射光量比的第2关系;而且,根据第1关系和第2关系来求出记录功率和反射光量比的第3关系,并求出最适记录功率所对应的最适反射光量比;当记录实际的资讯时,藉由检测反射光量比,以根据第3关系求出该检测的反射光量比断对应之记录功率,修正该记录功率以使该检测的反射光量比和最适反射光量比的差份成为零。38.一种记录着光资讯记录控制程式之记录媒体,其所记录的控制程式,能藉由电脑的处理,以根据表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,而在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征在于:在记录实际的资讯前,当进行记录雷射光强度最适化处理时,依序变化照射光资讯记录媒体的雷射光之记录功率,以对该光资讯记录媒体进行记录试验数据的第1记录;固定记录功率后,依序变化雷射光相对光资讯记录媒体的空间位置关系,以对该光资讯记录媒体进行记录试验数据的第2记录;当进行第1记录时,针对各记录功率,检测主要依存于记录功率的第1资讯、依存于记录功率和空间位置关系的第2资讯、不对称値,记忆住记录功率和第1资讯的第1关系、记录功率和第2资讯的第2关系、不对称値和记录功率的关系;根据不对称値和记录功率的关系,求得最适不对称値所能得到的最适记录功率后记忆之,根据第1关系及第2关系,记忆住最适记录功率所对应的最适第1资讯及最适第2资讯;当进行第2记录时,检测出主要依存于空间位置关系的第3资讯及不对称値,记忆住不对称値和第3资讯的关系;根据进行第1记录时所记忆之不对称値和记录功率的关系、和进行第2记录时所记忆之不对称値和第2资讯的关系,求出记录功率和第3资讯的第3关系后记忆之,并根据该第3关系,记忆住最适记录功率所对应的最适第3资讯;当记录实际的资讯时,检测出第1资讯及第2资讯及第3资讯;求出该检测出的第1资讯和最适第1资讯的第1差份、第2资讯和最适第2资讯的第2差份、第3资讯和最适第3资讯的第3差份;当第3差份是零、第1差份不是零时,根据所检测的第1资讯和第1关系求出记录功率,修正该记录功率以使第1差份成为零;当第3差份不是零、第1差份是零时,根据所检测的第3资讯和第3关系求出记录功率,修正该记录功率以使第3差份成为零;当第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是零时,根据所检测的第2资讯和第2关系求出记录功率,修正该记录功率以使第2差份成为零。39.一种记录着光资讯记录控制程式之记录媒体,其所记录的控制程式,能藉由电脑的处理,以根据表示凹坑形成期间的第1位准和表示凹坑不形成期间的第2位准所构成的数位信号,在光资讯记录媒体上照射既定直径的雷射光点,而在该光资讯记录媒体上形成长度对应于凹坑形成期间的凹坑,其特征为具备:第1步骤,在记录实际的资讯前,当进行记录雷射光强度最适化处理时,依序变化照射在光资讯记录媒体上的雷射光之记录功率,以在该光资讯记录媒体上记录试验数据;第2步骤,在第1步骤中,对应于记录功率,检测出差份光强度値(由比雷射光点的光点径大之凹坑的前端部之反射光强度极大値和后端部之反射光强度平均値的差所构成)、反射光量比(由来自比光点径小的凹坑之全反射光量对来自比光点径大的凹坑之全反射光量的比所构成)及不对称値,并将差份光强度値和反射光量比的差当作差份检测値来算出;第3步骤,根据第2步骤所检测出的差份光强度値,求出表示记录功率和差份光强度値的关系之第1检测式,记忆之;第4步骤,根据第2步骤所算出的差份检测値,求出表示记录功率和差份检测値的关系之第2检测式,记忆之;第5步骤,根据第2步骤所检测出的不对称値,求出表示不对称値和记录功率的关系之基准式,记忆之;第6步骤,根据第5步骤所记忆的基准式,求出能得到最适不对称値的最适记录功率,记忆之;第7步骤,根据第6步骤所求得的最适记录功率和第1检测式,把最适记录功率所对应的差份光强度値当作最适差份光强度値,记忆之;第8步骤,根据第6步骤所求得的最适记录功率和第2检测式,把最适记录功率所对应的差份检测値当作最适基准化差份检测値,记忆之;第9步骤,将记录功率固定为第6步骤所求得的最适记录功率后,以既定步骤来改变为对光资讯记录媒体照射雷射光之光拾讯器的聚焦、倾斜、循迹中之至少一种伺服系统的偏置,以在该光资讯记录媒体上记录试验数据;第10步骤,在第9步骤中,检测出各偏置之反射光量比及不对称値;第11步骤,根据第10步骤所检测出的反射光量比及不对称値,求出不对称値和反射光量比的关系式;第12步骤,根据第11步骤所求得的关系式和第5步骤所求得的基准式,求出表示记录功率和反射光量比的关系之第3检测式,记忆之;第13步骤,根据第6步骤所求得的最适记录功率和第3检测式,将最适记录功率所对应的反射光量比当作最适反射光量比,记忆之;第14步骤,当记录实际的资讯时,检测出差份光强度値及反射光量比,并算出差份检测値;第15步骤,算出第14步骤所检测出的差份光强度値和最适差份光强度値的第1差份;第16步骤,算出第14步骤所算出的差份检测値和最适基准化差份检测値的第2差份;第17步骤,算出第14步骤所检测出的反射光量比和最适反射光量比的第3差份;第18步骤,当第3差份是零、第1差份不是零时,根据第14步骤所检测出的差份光强度値和第1检测式求出记录功率,修正记录功率,以使第1差份成为零;第19步骤,当第3差份不是零、第1差份是零时,根据第14步骤所检测出的反射光量比和第3检测式求出记录功率,修正记录功率,以使第3差份成为零;以及第20步骤,当第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是零时,根据第14步骤所算出的差份检测値和第2检测式求出记录功率,修正记录功率,以使第2差份成为零。图式简单说明:图1系显示本发明的一实施形态之光资讯记录装置的电气系统电路的方块图。图2系显示本发明的一实施形态之光资讯记录装置的记录功率偏差检测部的电气系统电路的方块图。图3系本发明的一实施形态的反射光量比的说明图。图4系本发明的一实施形态的差份光强度値的说明图。图5系本发明的一实施形态的雷射光点径和凹坑长度的关系之说明图。图6系用眼图(eye pattern)来说明本发明的一实施形态的雷射光点径和凹坑长度关系的图。图7系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。图8系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。图9系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。图10系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。图11系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。图12系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。图13系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。图14系说明本发明的一实施形态的记录功率修正的处理流程图。 |
