发明名称 Anordnung zum Testen eines integrierten Schaltkreises
摘要 Bei einer Anordnung zum Testen eines integrierten Schaltkreises mit einer kombinatorischen Logik (1), wobei die Anordnung einen Test des Verhaltens der kombinatorischen Logik (1) im Vergleich zu einer Testsoftware vornimmt, die das Soll-Verhalten des integrierten Schaltkreises emuliert, ist für die Überprüfung des Signalflankenverhaltens der kombinatorischen Logik (1) vorgesehen, DOLLAR A dass in der Testsoftware zwei identische Software-Modelle (11, 16) der zu prüfenden kombinatorischen Logik (1) vorgesehen sind, wobei für Testzwecke ein Testmuster einem ersten (11) dieser Software-Modelle zugeführt wird und deren Ausgangssignale auf ein zweites (16) dieser Software-Modelle gekoppelt werden, DOLLAR A dass in dem integrierten Schaltkreis eine Testschaltung (2, 3, 4, 5) vorgesehen ist, welche in einem Testmodus in einem ersten Testtaktzyklus dem Eingang der kombinatorischen Logik (1) des integrierten Schaltkreises ein Testmuster zuführt und das Ausgangssignal in einen Zwischenspeicher (2, 3, 4, 5) übernimmt und welche dieses in einem zweiten Testtaktzyklus auf den Eingang der kombinatorischen Logik (1) rückkoppelt und wiederum das Ausgangssignal der kombinatorischen Logik (1) in den Zwischenspeicher (2, 3, 4, 5) übernimmt, DOLLAR A und dass die Anordnung am Ende des zweiten Testtaktzyklus die in dem Zwischenspeicher (2, 3, 4, 5) stehenden Ergebnisse der kombinatorischen Logik (1) des integrierten Schaltkreises mit den Ergebnissen des zweiten Software-Modells (16) vergleicht.
申请公布号 DE10039004(A1) 申请公布日期 2002.02.21
申请号 DE2000139004 申请日期 2000.08.10
申请人 PHILIPS CORPORATE INTELLECTUAL PROPERTY GMBH 发明人 HAPKE, FRIEDRICH
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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