发明名称 | 线性采样开关 | ||
摘要 | 一种由p沟道与n沟道场效应晶体管(FET)构成的采样电路。p沟道FET(42)的源节点耦合至n沟道FET(40)的漏节点,而p沟道FET(42)的漏节点耦合至n沟道FET(40)的源节点。采样时钟耦合至各FET的栅节点。线性采样电路的第一侧接至模拟或RF信号源,线性采样电路的远侧接至保持电容器(44)。n沟道FET具有n沟道宽度,p沟道FET具有p沟道宽度,且后者大于前者,以提高制成的开关的接通电阻的线性度。 | ||
申请公布号 | CN1337093A | 申请公布日期 | 2002.02.20 |
申请号 | CN00802713.7 | 申请日期 | 2000.01.11 |
申请人 | 高通股份有限公司 | 发明人 | S·S·巴扎佳尼 |
分类号 | H03K17/687 | 主分类号 | H03K17/687 |
代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 沈昭坤 |
主权项 | 1.一种开关,它包括:具有n沟道宽度的n沟道FET;和具有p沟道宽度的p沟道FET;其特征在于,所述p沟道FET的源节点耦合至所述n沟道FET的漏节点,所述p沟道FET的漏节点耦合至所述n沟道FET的源节点,而所述p沟道FET的栅节点和所述n沟道FET的栅节点均配置成耦合至互补时钟信号;而且其中所述p沟道宽度大于所述n沟道宽度,以提高所述开关的线性度。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |