| 主权项 |
1.一种可自动测试不同规格键盘之方法,系利用一事先储存在记忆体中之语系注册表及测试软体数据库,俾测试键盘时,透过一中央处理单元先读取该待测键盘之内含语言代码,将该代码与该记忆体所储存之语系注册表相比对,而判断出该待测键盘所属之*规格,再由该待测键盘上读取该待测键盘所属之应用程式介面函数,从该函数中识别出该待测键盘之机种,以及读取该待测键盘所使用之特殊按键及功能键之内码,从该内码中识别出该行测键盘之机型,嗣,再读取该记忆体所储存之测试软体数据库,透过该数据库中资料与该待测键盘之*规格、机种及机型资料相比对,而查找出与该待测键盘相对应之测试软体,再透过该查找出之测试软体针对该待测键盘进行测试。2.如申请专利范围第1项所述之可自动测试不同规格键盘之方法,其中当该中央处理单元判断出该待测键盘不属于现有公认之*规格时,则从记忆体中读取一已注册之*语系代码表,透过该代码表搜寻与该待测键盘相对应之语言代码,即可查找出该待测键盘所属之*规格。3.如申请专利范围第1项所述之可自动测试不同规格键盘之方法,其中该中央处理单元可由该待测键盘之*规格、机种及机型之资料,获得该待测键盘之布局识别编号,再读取该记忆体所储存之测试软体数据库,透过该数据库中资料与该待测键盘之布局识别编号相比对,而查找与该待测键盘相对应之测试软体。4.如申请专利范围第3项所述之可自动测试不同规格键盘之方法,其中该中央处理单元若无法从该数据库中查找出与该待测键盘相对应之测试软体,则使用该数据库中公认之测试软体。5.如申请专利范围第3或4项所述之可自动测试不同规格键盘之方法,其中该中央处理单元从该测试软体获得键盘布局时,可透过一显示器将该键盘布局显示出来,令使用者可由该显示器上所显示之键盘布局,针对该待测键盘之每一个按键进行测试。图式简单说明:第一图系本发明之流程图。 |
