发明名称 计算机层析X射线摄影设备
摘要 本发明涉及一种对射线硬化具有回顾式修正功能的计算机层析X射线摄影设备。其中,由根据一个受检病人体层的X射线投影确定的总衰减值,重现体层的总图像。由此总图像取出至少一个分图,它基本上只显示一种身体物质,优选是骨质。由此至少一个分图,通过再投影确定分衰减值,以此为基础对于每个总衰减值确定一个修正值。此修正值由射线硬化误差得出。针对两种不同的基准材料的材料组合来确定该射线硬化误差。
申请公布号 CN1334064A 申请公布日期 2002.02.06
申请号 CN01124649.9 申请日期 2001.07.24
申请人 西门子公司 发明人 马里奥·莱因万德;卡尔·斯蒂尔斯托弗
分类号 A61B6/03 主分类号 A61B6/03
代理机构 柳沈知识产权律师事务所 代理人 侯宇
主权项 1.一种计算机层析X射线摄影设备,它包括: -一个放射探测装置(10、12),它为受检病人的一个体层的每次X射 线投影提供一组X射线强度测量值,这一组的每个X射线强度测量值代表X 射线在X射线投影的一个分区穿透体层后的强度,以及 -一个与放射探测装置(10、12)连接的计算和重现单元(16),它设计 成: a)对每个X射线强度测量值确定一个总衰减值,它代表X射线在体层 内涉及X射线投影的分区实际发生的总衰减, b)从此总衰减值出发重现体层的总图像, c)由此总图像取出基本上呈现体层内第一种物质的第一分图, d)由此第一分图为X射线投影的每个分区确定第一分衰减值,它是X 射线在所涉及的分区内在此体层的第一种物质中发生衰减的一个量度,将该 第一分衰减值赋予给相应分区的总衰减值, e)由此总图像取出基本上呈现体层内第二种物质的第二分图, f)类似于确定第一分衰减值,对每个X射线投影分区确定第二分衰减 值并将其赋予给相应分区的总衰减值, g)借助于事先确定并储存在计算和重现单元(16)内的射线硬化修正信 息,由第一和第二分衰减值对于每个总衰减值确定一个修正值, h)按下式为每个总衰减值确定一个相关的经射线硬化修正的总衰减 值: g<sub>corr</sub>=g+k(t<sub>1</sub>,t<sub>2</sub>) 其中,g<sub>corr</sub>表示经射线硬化修正的总衰减值,g表示总衰减值,t<sub>1</sub>表示 第一分衰减值,t<sub>2</sub>表示第二分衰减值以及k(t<sub>1</sub>,t<sub>2</sub>)表示由t<sub>1</sub>和t<sub>2</sub>确定的修正 值, 其特征在于:为了确定修正值k(t<sub>1</sub>,t<sub>2</sub>), i)对于一种由第一基准材料(20)和与之不同的第二基准材料(22)组成的 材料顺序,确定在不同的厚度组合下的一组基准的总衰减值,这一组的每一 个基准总衰减值g<sub>ref</sub>代表此材料顺序在一种规定的厚度组合时X射线的总衰 减, j)对于此材料顺序的厚度组合中第一基准材料(20)的每种厚度,计算X 射线理论上的线性衰减并用第一单个衰减值S<sub>1</sub>来代表, k)对于此材料顺序的厚度组合中第二基准材料(22)的每种厚度,计算X 射线理论的线性衰减并用第二单个衰减值S<sub>2</sub>来代表,以及 1)对于此材料顺序的每种厚度组合,按下式确定修正值 k(t<sub>1</sub>,t<sub>2</sub>)=t<sub>1</sub>+t<sub>2</sub>-g<sub>ref</sub>(S<sub>1</sub>=t<sub>1</sub>,S<sub>2</sub>=t<sub>2</sub>), 其中g<sub>ref</sub>(S<sub>1</sub>=t<sub>1</sub>,S<sub>2</sub>=t<sub>2</sub>)表示在此材料顺序的一种厚度组合情况下的基准总 衰减值,对此适用S<sub>1</sub>=t<sub>1</sub>和S<sub>2</sub>=t<sub>2</sub>。
地址 联邦德国慕尼黑