| 主权项 |
1.一种微刻度量尺,其系包括有: 一透光板,以良好导光材质制成。于透光板定义有 一面积相对较大之顶面以及至少一面积相对较小 之侧面; 一光源,对应于该透光板之该侧面,可提供光自该 侧面射入透光板;以及, 复数个微凹结构,排列设置于透光板之该顶面上以 形成一刻度状结构; 其中,光源所提供之光可透过透光板侧面而自微凹 结构射出,而在透光板顶面形成相对较明亮之微刻 度。2.如申请专利范围第1项所述之微刻度量尺,其 中更包括有一支撑框体,该透光板及光源系定位于 支撑框体上。3.如申请专利范围第2项所述之微刻 度量尺,其中支撑框体系为金属材质所制成。4.如 申请专利范围第2项所述之微刻度量尺,其中更包 括有一排线其一端连接于光源。5.如申请专利范 围第4项所述之微刻度量尺,其中该排线之另一端 延伸至支撑框体一侧边上连接有一插座。6.如申 请专利范围第5项所述之微刻度量尺,其中更包括 有一电源供应装置其可连接于该插座以供应光源 所需之电源。7.如申请专利范围第4项所述之微刻 度量尺,其中更包括有一电源单元其定位于支撑框 体上,该排线之另一端系连接于电源单元。8.如申 请专利范围第7项所述之微刻度量尺,其中于电源 单元中更设有包括一控制电路用以控制光源发光 以及一电源线延伸至微刻度量尺外部其可供连接 一外界之电源供应装置。9.如申请专利范围第1项 所述之微刻度量尺,其中该复数个微凹结构系以下 列方式之一所加工制成:雷射加工及压模之模铸加 工。10.如申请专利范围第1项所述之微刻度量尺, 其中透光板之材质系为以下之一:压克力、玻璃、 石英、塑胶、及其他良好导光材质。11.如申请专 利范围第1项所述之微刻度量尺,其中该复数个微 凹结构系呈狭长条状且系平行排列以形成刻度状 结构。12.如申请专利范围第1项所述之微刻度量尺 ,其中该复数个微凹结构系呈凹点状且系以阵列方 式排列以形成刻度状结构。13.如申请专利范围第1 项所述之微刻度量尺,其中该复数个微凹结构系呈 不等直径之圆环状且系以同圆心方式排列以形成 刻度状结构。14.如申请专利范围第1项所述之微刻 度量尺,其中该微凹结构系呈三角形。15.如申请专 利范围第14项所述之微刻度量尺,该三角形之微凹 结构于透光板形成有两侧边,其中该两侧边中较接 近光源之一侧边与透光板顶面的夹角小于145度角 。16.如申请专利范围第1项所述之微刻度量尺,其 中该透光板相对于顶面之另一例底面设有反光材 。17.如申请专利范围第1项所述之微刻度量尺,其 中该透光板之顶面涂设有透光性佳之保护层。18. 如申请专利范围第1项所述之微刻度量尺,其中该 透光板于较接近光源之侧的厚度系大于透光板较 远离光源之侧的厚度。19.一种微刻度量尺,包括有 : 一支撑框架,于支撑框架中央设有一中空区域; 一透光板,设于该中空区域,该透光板并具有一面 积相对较大之顶面以及至少一面积相对较小之侧 面; 以及, 若干微刻度,设于该透光板之顶面; 其特征在于: 该微刻度系藉由于透光板之该顶面上形成复数个 微凹结构所排列构成,可藉由提供一光源自透光板 之该侧面射入光,而使光可自微凹结构射出,而在 透光板顶面形成相对较明亮之该微刻度。20.如申 请专利范围第19项所述之微刻度量尺,其中该光源 系固设于支撑框架上。图式简单说明: 图一系为习用之微刻度量尺之一较佳实施倒立体 示意图。 图二系为图一之习用微刻度量尺之微刻度部份放 大正视图。 图三系为本创作之微刻度量尺之第一较佳实施例 的立体示意图。 图四系为图三之C-C剖面图,示意说明本创作之微刻 度量尺之光源所提供之光在透光板中行进路线示 意图。 图五系为图三所示本创作之微刻度量尺之微刻度 部份放大正视图。 图六系为本创作之微刻度量尺之微刻度部份放大 正视图的第二实施例。 图七系为本创作之微刻度量尺之微刻度部份放大 正视图的第三实施例。 图八系为本创作之微刻度量尺之透光板部份的第 四实施例。 图九系为本创作之微刻度量尺之透光板部份的第 五实施例。 图十系为本创作之微刻度量尺之第六实施例。 |
