发明名称 Method and device for testing signals setup and hold time in a circuit with synchronous data transfer
摘要 <p>Erfindungsgemäß wird zum Testen ein Referenztaktsignal an eine erste Verzögerungsstrecke mit einer festen Verzögerung und eine zweite Verzögerungsstrecke mit einer variablen Verzögerung angelegt, die jeweils mit einem Eingang der getakteten Schaltung verbunden sind, um eine Datenübertragung der getakteten Schaltung auszulösen, wobei die erste Verzögerungsstrecke ein Taktsignal und die zweite Verzögerungsstrecke ein Datensignal an die getaktete Schaltung anlegt, wobei die variable Verzögerung einen Einstellbereich &Delta;tv mit n äquidistanten Schritten und einer Grundverzögerung &Delta;t im Bereich von [tF - n&Delta;t/2; tF+ n&Delta;t/2] aufweist und die feste Verzögerung tF mindestens n&Delta;t/2 beträgt. Zum Kalibrieren werden der Einstellbereich der variablen Verzögerung und die feste Verzögerung jeweils auf den k-fachen Wert erhöht und die variable Verzögerung wird schrittweise von n = 0 an inkrementiert, bis drei Phasenwechsel detektiert werden, wobei der Wert von n zum Zeitpunkt des ersten Phasendurchgangs der variablen Verzögerung für die Setup-Zeit und der Wert von n zum Zeitpunkt des dritten Phasendurchgangs der variablen Verzögerung für die Hold-Zeit entspricht. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1176607(A2) 申请公布日期 2002.01.30
申请号 EP20010117160 申请日期 2001.07.14
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 BUCKSCH, THORSTEN;SCHNEIDER, RALF
分类号 G11C29/02;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/02
代理机构 代理人
主权项
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