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发明名称 INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST INTERFACE
摘要
申请公布号 EP1175624(A1) 申请公布日期 2002.01.30
申请号 EP20010903745 申请日期 2001.02.09
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 DE JONG, FRANCISCUS, G., M.;SCHUTTERT, RODGER, F.;DE WILDE, JOHANNES;DEN BEESTEN, GERRIT, W.;KUP, BERNARDUS, M., J.;VAN UDEN, ALBERTUS, J., P., M.
分类号 G01R31/28;G01R31/316;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/316 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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